[发明专利]基于非平稳分析与条件随机场的SAR图像变化检测方法有效

专利信息
申请号: 201510526592.5 申请日: 2015-08-25
公开(公告)号: CN105160666B 公开(公告)日: 2018-03-06
发明(设计)人: 李明;朱华慧;张鹏;吴艳;贾璐;安琳 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06T7/10 分类号: G06T7/10;G06T7/00;G06K9/00
代理公司: 西安睿通知识产权代理事务所(特殊普通合伙)61218 代理人: 惠文轩
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 基于 平稳 分析 条件 随机 sar 图像 变化 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于非平稳分析与条件随机场的SAR图像变化检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1,输入待检测的原始第一时相SAR图像X1和原始第二时相SAR图像X2

步骤2,对原始第一时相SAR图像X1和原始第二时相SAR图像X2分别进行归一化处理,并对归一化后的第一时相SAR图像X′1和归一化后的第二时相SAR图像X′2作对数比值运算,得到对数比值图像Xb;对数比值图像Xb的大小与原始第一、第二时相SAR图像的大小均相同;

步骤3,利用滑动窗口分别提取归一化后的第一时相SAR图像的纹理特征矩阵和归一化后的第二时相SAR图像的纹理特征矩阵;并将归一化后的第二时相SAR图像的纹理特征矩阵减去归一化后的第一时相SAR图像的纹理特征矩阵,得到对数比值图像的纹理特征矩阵;所述纹理特征矩阵依次由均值特征矩阵、对比度特征矩阵和半方差特征矩阵组合而成;

步骤4,将对数比值图像Xb进行平稳性分割,得到两种平稳性区域:A平稳区域与B平稳区域;A平稳区域中像素点的个数与B平稳区域中像素点的个数的和等于对数比值图像中像素点的个数;

步骤5,分别选出A平稳区域和B平稳区域的样本点;

步骤6,提取A平稳区域的所有样本点的纹理特征,组成A平稳区域的纹理特征向量,给定A平稳区域的训练标签lA,结合A平稳区域的训练标签lA和A平稳区域的纹理特征向量构成A平稳区域的训练样本,利用该训练样本训练支撑向量机,得到第一分类标签矩阵Ac;

步骤7,提取B平稳区域的所有样本点的纹理特征,组成B平稳区域的纹理特征向量,给定B平稳区域的训练标签lB,结合B平稳区域的训练标签lB和B平稳区域的纹理特征向量构成B平稳区域的训练样本,利用该训练样本训练支撑向量机,得到第二分类标签矩阵Bc;

步骤8,根据第一分类标签矩阵Ac和第二分类标签矩阵Bc,求得对数比值图像Xb的初始分类标签矩阵Oc,并求得对数比值图像Xb中每个像素点的类条件概率,再对对数比值图像Xb中每个像素点的类条件概率取对数,得到对数比值图像Xb中每个像素点的一元势能函数;

步骤9,提取对数比值图像Xb中每个像素点的边界强度,并构建对数比值图像Xb中每个像素点的二元势能函数;

步骤10,根据对数比值图像Xb中每个像素点的一元势能函数和二元势能函数,得到初步算法模型p(X|Y),其中,X为标记场,Y为观测场;

所述初步算法模型p(X|Y)的表达式为:

其中,U为非平稳场,1/Z为初步算法模型p(X|Y)的分布函数,Qn为对数比值图像Xb中第n个像素点的邻域系统,xn为标记场X中对应于对数比值图像Xb的第n个像素点的标记值,xt为标记场X中对应于对数比值图像Xb的像素点t的标记值,n∈{1,2,...,N},N为对数比值图像Xb的像素点总数,A(xn,Fn,Un,X)为对数比值图像Xb中第n个像素点的一元势能函数,Fn为对数比值图像Xb中第n个像素点的纹理特征向量,I(xn,xt,X,Y,U)为对数比值图像Xb中第n个像素点的二元势能函数:

QH为水平邻域系统、QV为垂直邻域系统,rn为对数比值图像Xb中第n个像素点的边界强度,rt为对数比值图像Xb中像素点t的边界强度,edge_C为常量,为二元势能函数参数,g1,g2为非平稳场U的两个不同取值,分别取0和1,Un为对数比值图像Xb中第n个像素点的平稳性标记值,Ut为对数比值图像Xb中像素点t的平稳性标记值,δ为阶跃函数,其中:

步骤11,计算初步算法模型p(X|Y)中的二元势能函数参数,根据该二元势能函数参数求得对数比值图像Xb的最终分类标签矩阵,即得到原始第二时相SAR图像相对于原始第一时相SAR图像的变化检测结果。

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