[发明专利]电容式传感器的检测方法和装置及触摸芯片和空调器

说明书

技术领域

本发明涉及检测领域，具体而言，涉及一种电容式传感器的检测方法和装置及触摸芯片和空调器。

背景技术

电容式传感器，是常见的传感器件，包括电容式触摸传感器、电容式触摸按键传感器等。对电容式传感器的检测，通常是通过非自动化方式进行的。比如，利用导电薄膜(Indium Tin Oxide，简称为ITO)、导电泡棉、弹簧等传感器的阻抗进行的电容检测，在进行生产测试时，都需要依靠测试人员使用专门的电阻测试仪器来进行，只有通过此种方式才能达到电容式传感器检测的目的，以进一步完成测试任务。但是，由于人工的参与，测试的整个过程会受到测试人员的观察力、判断力、精力、工作经验等多方面的因素影响，存在着检测效率低，能量损耗大，检测成本高等缺陷。

针对相关技术中对电容式传感器的检测效率低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种电容式传感器的检测方法和装置及触摸芯片和空调器，以解决电容式传感器的检测效率低的问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种电容式传感器的检测方法，该方法包括：检测电容式传感器的电阻值；判断电容式传感器的电阻值是否在预设电阻范围内；以及如果判断出电容式传感器的电阻值不在预设电阻范围内，则确定电容式传感器异常。

进一步地，通过以下方法检测电容式传感器的电阻值：对电容式传感器进行充电；充电后的内置电容对触摸介质进行放电；在预设时间周期内计算电容式传感器的剩余电压值；将剩余电压值与预设电压阈值进行对比；计算第一次数和第二次数，其中，第一次数为剩余电压值超出预设电压阈值的次数，第二次数为剩余电压值低于预设电压阈值的次数；以及根据第一次数和第二次数确定电容式传感器的电阻值。

进一步地，通过以下方法计算电容式传感器的剩余电压值：检测电容式传感器的初始电压值；检测触摸介质的电压值；以及根据电容式传感器的初始电压值和触摸介质的电压值计算电容式传感器的剩余电压值，其中，电容式传感器的剩余电压值为电容式传感器的初始电压值和触摸介质的电压值的差值。

进一步地，根据第一次数和第二次数确定电容式传感器的电阻值包括：获取预设映射关系，其中，预设映射关系为第一次数、第二次数和电容式传感器的电阻值的映射关系；以及根据第一次数、第二次数和预设映射关系确定电容式传感器的电阻值。

进一步地，电容式传感器的电阻值和电容式传感器的电容值满足预设关系，通过检测电容式传感器的电阻值检测电容式传感器的电容值，通过判断电容式传感器的电阻值是否在预设电阻范围内检测电容式传感器的电容值是否在预设电容范围内。

为了实现上述目的，根据本发明的另一方面，还提供了一种电容式传感器的检测装置。该装置包括：检测单元，用于检测电容式传感器的电阻值；判断单元，用于判断电容式传感器的电阻值是否在预设电阻范围内；确定单元，用于在判断出电容式传感器的电阻值不在预设电阻范围内时，确定电容式传感器异常。

进一步地，检测单元包括：充电模块，用于对电容式传感器进行充电；放电模块，用于使充电后的内置电容对触摸介质进行放电；第一计算模块，用于在预设时间周期内计算电容式传感器的剩余电压值；对比模块，用于将剩余电压值与预设电压阈值进行对比；第二计算模块，用于计算第一次数和第二次数，其中，第一次数为剩余电压值超出预设电压阈值的次数，第二次数为剩余电压值低于预设电压阈值的次数；以及确定模块，用于根据第一次数和第二次数确定电容式传感器的电阻值。

进一步地，第一计算模块包括：第一检测子模块，用于检测电容式传感器的初始电压值；第二检测子模块，用于检测触摸介质的电压值；以及计算子模块，用于根据电容式传感器的初始电压值和触摸介质的电压值计算电容式传感器的剩余电压值，其中，电容式传感器的剩余电压值为电容式传感器的初始电压值和触摸介质的电压值的差值。

进一步地，确定模块包括：获取子模块，用于获取预设映射关系，其中，预设映射关系为第一次数、第二次数和电容式传感器的电阻值的映射关系；以及确定子模块，用于根据第一次数、第二次数和预设映射关系确定电容式传感器的电阻值。

进一步地，电容式传感器的电阻值和电容式传感器的电容值满足预设关系，装置通过检测电容式传感器的电阻值检测电容式传感器的电容值，通过判断电容式传感器的电阻值是否在预设电阻范围内检测电容式传感器的电容值是否在预设电容范围内。

为了实现上述目的，根据本发明的另一方面，还提供了一种触摸芯片，该触摸芯片包括本发明提供的任意一种电容式传感器的检测装置。