[发明专利]一种检测方法及装置

权利要求书

1.一种检测方法，其特征在于，所述方法包括：

创建元件图像对正样本集合以及负样本集合；其中，所述正样本集合包括模板图像与元件存在时的元件图像构成的元件图像对，所述模板图像为所述元件存在且处于标准位置时对应的元件图像；所述负样本集合包括所述模板图像与所述元件不存在时的元件图像构成的元件图像对，所述负样本集合还包括所述模板图像与其它元件存在时的元件图像构成的元件图像对；

利用所述正样本集合以及所述负样本集合训练Siamese网络；

将所述模板图像与测试图像输入经过训练后的Siamese网络，并分别作前向计算得到所述模板图像与所述测试图像的特征向量；

计算所述模板图像与所述测试图像的特征向量的相似度；

根据所述相似度确定所述测试图像与所述模板图像是否匹配。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试图像为需要进行测试的元件图像，所述根据所述相似度确定所述测试图像与所述模板图像是否匹配，包括：

根据所述相似度确定所述测试图像对应的元件是否存在。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述模板图像与测试图像输入经过训练后的Siamese网络之前，所述方法还包括：

利用模板匹配得到所述模板图像与所述测试图像中元件的位置并对所述模板图像与所述测试图像进行对齐；

对所述模板图像与所述测试图像进行归一化，以触发执行所述将所述模板图像与所述测试图像输入经过训练后的Siamese网络的步骤。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述创建元件图像对正样本集合以及负样本集合，包括：

采集印刷电路板图像；

以印刷电路板模板图像为参考，在所述印刷电路板图像上截取元件图像；

采集元件图像对正样本集合以及负样本集合。

5.根据权利要求4所述的方法，所述采集元件图像对正样本集合以及负样本集合之前，所述方法还包括：

利用模板匹配得到所述元件图像中元件的位置并对所述元件图像进行对齐；

对所述元件图像进行归一化，以触发执行所述采集元件图像对正样本集合以及负样本集合的步骤。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述相似度确定所述测试图像对应的元件是否存在，包括：

判断所述相似度是否在预设范围内；

若所述相似度在预设范围内，则判定为所述元件存在；

若所述相似度不在预设范围内，则判定为所述元件不存在。

7.一种检测装置，其特征在于，所述装置包括：

样本创建模块，用于创建元件图像对正样本集合以及负样本集合，其中，所述正样本集合包括模板图像与元件存在时的元件图像构成的元件图像对，所述模板图像为所述元件存在且处于标准位置时对应的元件图像，所述负样本集合包括所述模板图像与所述元件不存在时的元件图像构成的元件图像对，所述负样本集合还包括所述模板图像与其它元件存在时的元件图像构成的元件图像对；

训练模块，用于利用所述正样本集合以及所述负样本集合训练Siamese网络；

图像输入模块，用于将所述模板图像与测试图像输入经过训练后的Siamese网络，并分别作前向计算得到所述模板图像与所述测试图像的特征向量；

计算模块，用于计算所述模板图像与所述测试图像的特征向量的相似度；

确定模块，用于根据所述相似度确定所述测试图像与所述模板图像是否匹配。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述测试图像为需要进行测试的元件图像，所述确定模块具体用于：

根据所述相似度确定所述测试图像对应的元件是否存在。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

预处理模块，用于利用模板匹配得到所述模板图像与所述测试图像中元件的位置并对所述模板图像与所述测试图像进行对齐；

对所述模板图像与所述测试图像进行归一化，以触发所述图像输入模块执行所述将所述模板图像与所述测试图像输入经过训练后的Siamese网络的步骤。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述样本创建模块包括：

图像采集单元，用于采集印刷电路板图像；

截取单元，用于以印刷电路板模板图像为参考，在所述印刷电路板图像上截取元件图像；

样本采集单元，用于采集元件图像对正样本集合以及负样本集合。