[发明专利]一种三相交流电源相位检测电路在审

专利信息
申请号: 201510528122.2 申请日: 2015-08-25
公开(公告)号: CN105067884A 公开(公告)日: 2015-11-18
发明(设计)人: 杨国勋;杨后跃;靳若冰 申请(专利权)人: 上海华兴数字科技有限公司
主分类号: G01R25/00 分类号: G01R25/00;G01R29/16;G01R29/18
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 朱俊跃
地址: 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 三相 交流 电源 相位 检测 电路
【说明书】:

技术领域

发明属于电路设计领域,涉及一种检测电路,尤其涉及一种三相交流电源相位检测电路。

背景技术

现有技术中的交流电压的相位检测大多采用变压器来降压,并通过光耦检测电压过零点。但现有的变压器的成本较高、体积较大,同时在检测电压过零点时,因电压较低,信号易受干扰。

因此,本领域的技术人员致力于开发一种简单、成本较低、且抗干扰能力强的检测电路。

发明内容

有鉴于此,本发明提供了一种三相交流电源相位检测电路。

为达到上述目的,具体技术方案如下:

本发明提供了一种三相交流电源相位检测电路,包括三相电源输入端和降压、检测及隔离模块,所述三相电源输入端与所述降压、检测及隔离模块相连,所述降压、检测及隔离模块中包括降压模块、检测模块和隔离模块,所述降压模块通过电阻降压,所述检测模块通过二极管起始在30°处判断信号,所述隔离模块通过光耦元件进行隔离。

优选的,所述降压、检测及隔离模块采用三相三线的结构。

优选的,所述降压、检测及隔离模块的三线上均设有第一电阻、第一二极管、光耦、第二电阻和第二二极管,所述三相电源输入端分别与三线上的第一电阻相连,所述第一电阻与光耦的输入端的正极相连,所述光耦的输出端与第二电阻相连,所述第一二极管与第一电阻串联,所述第二二极管的正、负极分别与光耦的输入端的负、正极相连,所述三线上的第二二极管的正极相互连接。

优选的,所述第一二极管的负极与光耦的输入端的正极相连。

优选的,所述第一二极管的正极与光耦的输入端的负极相连。

优选的,所述第二电阻与光耦的输出端的发射极相连。

优选的,所述第二电阻与光耦的输出端的集电极相连。

优选的,还包括迟滞比较模块,所述迟滞比较模块与所述降压、检测及隔离模块相连。

优选的,还包括RC滤波模块,所述迟滞比较模块与所述RC滤波模块相连。

优选的,所述RC滤波模块上设有输出端,所述输出端与MCU处理模块相连。

相对于现有技术,本发明的技术方案电路简单、可靠性高、成本低,并具有阐述如下:

1、使用电阻降压,成本低、体积小;

2、在30°、150°、270°、390°处判断信号,此时电压高,抗干扰性强;

3、三相三线制即可判断相位,无需三相四线制;

4、智能判断相序、电压过零点、相位、缺相。

附图说明

构成本发明的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:

图1为本发明的实施例的结构示意图;

图2为本发明的实施例的时序示意图;

图3为本发明的另一实施例的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

需要说明的是,在不冲突的情况下,本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

以下将结合附图对本发明的实施例做具体阐释。

如图1中所示的本发明的实施例的一种三相交流电源相位检测电路,包括三相电源输入端(Ua、Ub、Uc)和降压、检测及隔离模块,三相电源输入端Ua、Ub、Uc与降压、检测及隔离模块相连。

降压、检测及隔离模块中包括降压模块、检测模块和隔离模块,降压模块通过电阻降压,检测模块通过二极管起始在30°处判断信号,隔离模块通过光耦进行隔离。

本发明的实施例采用电阻降压、检测电压30°点,能准确判断出三相交流电源的相序、电压过零点、相位、缺相。

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