[发明专利]激光测量装置有效

专利信息
申请号: 201510529475.4 申请日: 2015-08-26
公开(公告)号: CN105388483B 公开(公告)日: 2020-07-31
发明(设计)人: 江野泰造 申请(专利权)人: 株式会社拓普康
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G01S7/48
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 秦琳;陈岚
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 激光 测量 装置
【说明书】:

发明涉及激光测量装置。具备:发光部,照射脉冲测距光;受光部,对反射脉冲测距光进行光接收;以及控制运算部,控制所述发光部,并且,基于来自所述受光部的受光信号对到测定对象物的距离进行运算,所述发光部具有:发光源,对激励激光进行发光;光点直径变更单元,对所述激励激光的光点直径进行变更;以及光谐振部,照射经由该光点直径变更单元入射的所述激励激光来作为所述脉冲测距光。

技术领域

本发明涉及将激光光线照射到测定对象物并且对来自测定对象物的反射光进行光接收来进行测距的激光测量装置。

背景技术

以往,存在将激光光线以脉冲状照射到测定对象物并且利用受光元件对来自测定对象物的反射光进行光接收而按照每个脉冲来进行测距的激光测量装置。

通常,在利用脉冲测距光进行测距的情况下,利用在对由测定对象物反射的反射脉冲测距光进行光接收之后照射下一个脉冲测距光来进行测距的TOF(Time Of Flight,飞行时间)方式来进行测距。

在利用TOF方式进行处于桥、水坝等远处的测定对象物的测距的情况下,优选照射峰值输出高的脉冲测距光来进行测距,以使具有能测定的强度的反射脉冲测距光能够被光接收。相反地,在进行处于室内等近处的测定对象物的测距的情况下,优选照射重复频率高的脉冲测距光来进行测距,以使能够高密度地进行测定。在该情况下,不需要峰值输出高的脉冲测距光。

如上述了的那样,在利用TOF方式的测距中,所要求的脉冲测距光的峰值输出根据到测定对象物的距离而不同。然而,在以往的激光测量装置中,对测定对象物照射的脉冲测距光的峰值输出、重复频率是固定的,在进行近处的测定对象物的测距的情况和进行远处的测定对象物的测距的情况下,需要使用不同的激光测量装置。

发明内容

本发明的目的在于提供一种能够对照射到测定对象物的脉冲测距光的峰值输出进行变更的激光测量装置。

为了达成上述目的,本发明的激光测量装置具备:发光部,照射脉冲测距光;受光部,对反射脉冲测距光进行光接收;以及控制运算部,控制所述发光部,并且,基于来自所述受光部的受光信号对到测定对象物的距离进行运算,所述发光部具有:发光源,对激励激光进行发光;光点直径变更单元,对所述激励激光的光点直径进行变更;以及光谐振部,照射经由该光点直径变更单元入射的所述激励激光来作为所述脉冲测距光。

此外,在本发明的激光测量装置中,所述光点直径变更单元具有液体透镜,所述光点直径变更单元根据对该液体透镜施加的电压的变化来对所述液体透镜的焦距进行变更,对入射到所述光谐振部中的所述激励激光的激励光点直径进行变更。

此外,在本发明的激光测量装置中,所述液体透镜具有在周向上分割的多个电极,所述光点直径变更单元按照各电极的每一个施加电压,变更所述激励激光的聚光方向。

进而此外,在本发明的激光测量装置中,所述控制运算部在所述激励激光的光点直径较小时使发光频率增大,在所述激励激光的光点直径较大时使发光频率减少。

根据本发明,具备:发光部,照射脉冲测距光;受光部,对反射脉冲测距光进行光接收;以及控制运算部,控制所述发光部,并且,基于来自所述受光部的受光信号对到测定对象物的距离进行运算,所述发光部具有:发光源,对激励激光进行发光;光点直径变更单元,对所述激励激光的光点直径进行变更;以及光谐振部,照射经由该光点直径变更单元入射的所述激励激光来作为所述脉冲测距光,因此,能够对从所述发光部发光的所述脉冲测距光的峰值输出进行变更,能够一起进行要求低峰值高重复的所述脉冲测距光的近距离下的测距、要求高峰值低重复的所述脉冲测距光的远距离下的测距。

此外,根据本发明,所述光点直径变更单元具有液体透镜,所述光点直径变更单元根据对该液体透镜施加的电压的变化来对所述液体透镜的焦距进行变更,对入射到所述光谐振部中的所述激励激光的激励光点直径进行变更,因此,能够在不需要用于驱动透镜的电动机等的情况下谋求装置的小型化,并且,谋求功耗的减少。

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