[发明专利]三浮陀螺仪伺服测试环境温控装置

说明书

技术领域

本发明涉及三浮陀螺仪伺服测试环境温控装置，属于温控技术领域。

背景技术

三浮陀螺仪是集液浮、动压气浮、磁悬浮“三浮”技术为一体的新型机械陀螺仪。现有的三浮陀螺仪测试温控工装，加热片直接粘贴到工装上，由于加热片和机体贴合不好，造成加热不均匀甚至局部无法加热。加热片外部直接暴露在空气中，造成加热温度无法稳定，1小时温度变化幅度约±5℃。现有的温控工装的测试电阻直接粘贴到加热片表面，且只有一个，测温误差大、准确性低，不能真实反映仪表环境的温度。

传统三浮陀螺仪温控工装，可以适用于静压液浮仪表等对温控要求低的仪表。对于三浮陀螺仪高精度伺服测试环境加温的要求还远远不能满足。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的上述不足，提供一种三浮陀螺仪伺服测试环境温控装置，克服了现有仪表环境加效率低、温控精度差的问题，保证了加热罩内侧加热均匀，显著提高了加热片加热效率和热敏电阻的测温准确性。

本发明的上述目的主要是通过如下技术方案予以实现的：

三浮陀螺仪伺服测试温控装置，包括上罩组件和下罩组件，其中上罩组件包括上加热罩、上外罩、第一加热片、第一热敏电阻和第一聚四氟乙烯薄膜，所述上加热罩和上外罩均为一端开口的半封闭结构，上外罩设置在上加热罩的外部，并通过端部固定连接，上加热罩的外侧壁面上首先设置第一聚四氟乙烯薄膜，第一聚四氟乙烯薄膜上设置第一加热片，第一加热片上再次设置第一聚四氟乙烯薄膜，所述第一热敏电阻设置在上加热罩的内侧壁面上；

下罩组件包括下加热罩、下外罩、第二加热片、第二热敏电阻和第二聚四氟乙烯薄膜，所述下加热罩和下外罩均为一端开口的半封闭结构，下外罩设置在下加热罩的外部，并通过端部固定连接，下加热罩的外侧壁面上首先设置第二聚四氟乙烯薄膜，第二聚四氟乙烯薄膜上设置第二加热片，第二加热片上再次设置第二聚四氟乙烯薄膜，所述第二热敏电阻设置在下加热罩的内侧壁面上。

在上述三浮陀螺仪伺服测试温控装置中，上罩组件还包括上隔热垫圈和上隔热片，其中上隔热垫圈位于上外罩端部的下表面与上加热罩端部的上表面之间，上隔热片位于上加热罩端部的下表面；所述下罩组件还包括下隔热垫圈和下隔热片，其中下加热罩与下外罩的端部齐平，下隔热垫圈位于下加热罩的端部外侧壁与下外罩的内侧壁之间，下隔热片位于下加热罩与下外罩的端面上。

在上述三浮陀螺仪伺服测试温控装置中，上隔热垫圈、上隔热片、下隔热垫圈和下隔热片的材料为有机硅-环氧夹布胶板。

在上述三浮陀螺仪伺服测试温控装置中，上隔热垫圈的厚度为2-3mm；上隔热片的厚度为2-3mm；下隔热垫圈的厚度为2-3mm；下隔热片的厚度为2-3mm。

在上述三浮陀螺仪伺服测试温控装置中，上加热罩外侧顶部和侧壁缠绕第一聚四氟乙烯薄膜，第一聚四氟乙烯薄膜外侧粘接第一加热片，第一加热片外侧缠绕第一聚四氟乙烯薄膜；下加热罩外侧底部和侧壁缠绕第二聚四氟乙烯薄膜，第二聚四氟乙烯薄膜外侧粘接第二加热片，第二加热片外侧缠绕第二聚四氟乙烯薄膜。

在上述三浮陀螺仪伺服测试温控装置中，第一热敏电阻为两个，分别设置在上加热罩内侧顶部和侧壁上；所述第二热敏电阻为两个，分别设置在下加热罩内侧底部和侧壁上。

在上述三浮陀螺仪伺服测试温控装置中，上加热罩、上外罩、下加热罩和下外罩的材料均为硬铝。

在上述三浮陀螺仪伺服测试温控装置中，位于第一加热片内侧和外侧的第一聚四氟乙烯薄膜均为多层，且外侧的第一聚四氟乙烯薄膜比内侧的第一聚四氟乙烯薄膜多2-3层；位于第二加热片内侧和外侧的第二聚四氟乙烯薄膜均为多层，且外侧的第二聚四氟乙烯薄膜比内侧的第二聚四氟乙烯薄膜多2-3层。

在上述三浮陀螺仪伺服测试温控装置中，第一聚四氟乙烯薄膜和第二聚四氟乙烯薄膜的厚度为0.02-0.03mm。

在上述三浮陀螺仪伺服测试温控装置中，上罩组件还包括第一引线和第一插头，第一引线穿过上加热罩、上外罩的引线孔，将第一热敏电阻与第一插头连接；所述下罩组件还包括第二引线和第二插头，第二引线穿过下加热罩、下外罩的引线孔，将第二热敏电阻与第二插头连接。

本发明与现有技术相比具有如下有益效果：

(1)、本发明对温控装置结构进行了创新设计，在上罩组件与下罩组件的加热片内外侧均增加了聚四氟乙烯薄膜，通过内侧增加聚四氟乙烯薄膜可以保证加热片与加热罩的贴合更加紧密，保证加热罩内侧加热均匀；外侧增加聚四氟乙烯薄膜可以有效降低加热片向外侧散热，显著提高加热片的加热效率；