[发明专利]基于自适应压片的通用宽带微波元器件测试夹具

说明书

技术领域

本发明涉及微波元器件测试工装领域，具体是一种基于自适应压片的通用宽带微波元器件测试夹具。

背景技术

晶体管是微波毫米波电路中的核心元器件之一，在低噪声放大器、功率放大器、混频器等电路的设计中，需要精确测量晶体管的输入输出阻抗和静态工作点。微波电路与系统中只有做到阻抗的匹配才能获得较好的系统性能，而不同的晶体管，不同的应用方向对阻抗的测试要求不同，这时就需要特定的测试夹具将晶体管或芯片引入测试系统，方便各种射频接口和电源的衔接，同时能够很好的剥离夹具的寄生参数，并具有较好的通用性能。但是现在市面上存在的夹具有其缺点，根据晶体管尺寸的不同，大多数人采取的措施是制作多种尺寸的载片台和压片来适应不同的晶体管，这样做不仅需要根据不同晶体管或芯片设计不同的夹具结构，并且安装卸载的过程不方便，通用性不强。

发明内容本发明的目的是提供一种基于自适应压片的通用宽带微波元器件测试夹具，以解决现有技术微波元器件夹具通用性不强的问题。

为了达到上述目的，本发明所采用的技术方案为：

基于自适应压片的通用宽带微波元器件测试夹具，其特征在于：包括有底板，底板上左侧固定安装有固定块，固定块右方的底板上沿左右方向直线滑动安装有滑动块，固定块顶部焊接有输入渐变线微带板，输入渐变线微带板上印制有输入宽带匹配微带电路，滑动块顶部焊接有输出渐变线微带板，输出渐变线微带板上印制有输出宽带匹配微带电路，且输入、输出渐变线微带板处于同一水平高度，底板上位于固定块、滑动块之间安装有整体高度可调的载片台，底板上位于载片台前、后方分别竖向安装有压片支持架，两压片支持架顶部共同支撑有压片，且压片沿前后方向横跨在载片台上方。

所述的基于自适应压片的通用宽带微波元器件测试夹具，其特征在于：所述输入、输出宽带匹配微带电路采用指数型渐变线设计，以实现宽带匹配，输入、输出宽带匹配微带电路的敏感位置以及馈电电路的敏感位置，均分别接入有可调电容。

所述的基于自适应压片的通用宽带微波元器件测试夹具，其特征在于：所述底板上设置有一对相互平行并沿左右水平方向延伸的T型导轨，两导轨各自左端分别延伸至紧挨固定块，两导轨各自右端分别延伸至底板边缘处，所述滑动块底部设置有一对沿左、右方向延伸的T型滑槽，滑动块通过底部T型滑槽滑动安装在T型导轨上，且滑动块底部T型滑槽与T型导轨之间间隙配合，滑动块朝向载片台的一侧设置有可部分容纳载片台的凹槽。

所述的基于自适应压片的通用宽带微波元器件测试夹具，其特征在于：所述载片台底部设有螺纹孔，载片台通过螺入底部螺纹孔中的螺杆安装在底板上，且载片台底部与底板之间可加设垫片，通过加设的垫片实现载片台整体高度可调。

所述的基于自适应压片的通用宽带微波元器件测试夹具，其特征在于：所述压片设置为倒置的凹字形，压片凹字形两端分别支撑在压片支持架上，压片横跨于载片台上方的中间位置设置有多个竖向贯通压片的直孔，直孔中插入有塑料圆柱体。可以通过调整圆形塑料棒的数量和位置，控制压块的形状，达到与被测晶体管形状吻合的目的，增加测试夹具的通用性。

本发明提出了一种可根据晶体管尺寸大小，调节压块形状的微波元器件测试夹具，与现有技术相比，无需对载片台和压片等结构进行反复拆卸就能满足不同晶体管尺寸的测试要求，提高了微波测试夹具的通用性。

本发明依靠指数型渐变线的宽带匹配形式将50欧姆阻抗匹配到10～40欧姆，实现了DC至8Ghz的频段内较好的匹配，S11和S22均在-11dB以下。通过在载片台底部添减垫片的方式，实现了不需要拆卸载片台就可以调节载片台的高度，来适应不同晶体管的高度的测试要求。通过在压片的中间位置覆盖高密度的的直孔的形式，可插入与晶体管尺寸相同的塑料圆柱体来压紧不同尺寸晶体管，从而实现更换晶体管时不需要拆卸压片的测试要求。通过沿着导轨做一维滑动的滑动块，实现不需更换载片台就能适应不同晶体管宽度的测试要求。

附图说明

图1为本发明整体结构示意图。

图2为本发明底板结构示意图。

图3为本发明T型导轨结构示意图。

图4为本发明载片台结构示意图。

图5为本发明输入渐变线微带板电路板图。

图6为本发明输出渐变线微带板电路板图。

图7为本发明固定块结构示意图。

图8为本发明滑动块结构示意图。

图9为本发明压片结构示意图。

图10为本发明压片支持架结构示意图。

具体实施方式