[发明专利]一种多晶黑硅结构及其液相制备方法有效
申请号: | 201510551033.X | 申请日: | 2015-08-31 |
公开(公告)号: | CN105140343B | 公开(公告)日: | 2018-02-13 |
发明(设计)人: | 沈鸿烈;蒋晔;王威 | 申请(专利权)人: | 南京航空航天大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0236;C30B33/10 |
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地址: | 210016 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 多晶 结构 及其 制备 方法 | ||
1.一种用于太阳电池制作的多晶黑硅结构的液相制备方法,其特征在于该结构是通过金属辅助化学腐蚀法结合NSR溶液扩孔获得的纳米级均匀分布的倒金字塔结构,在具备减反射效果的同时易于钝化,用于制备多晶黑硅太阳电池,该制备方法包括如下步骤:
(1)、对多晶硅片表面进行清洗,将所述多晶硅片表面浸入溶液一中沉积一层银纳米颗粒,纳米颗粒大小为50nm左右,溶液温度为室温;
(2)、将沉积完银纳米颗粒的多晶硅片浸入溶液二中进行腐蚀,得到孔径50-100nm,孔深500nm的纳米孔洞结构多晶黑硅片,溶液温度为室温;
(3)、将腐蚀完的多晶黑硅片浸入溶液三中进行清洗,去除残留银纳米颗粒,溶液温度为室温;
(4)、将制备好的多晶黑硅片浸入NSR溶液中腐蚀扩孔;NSR溶液的组成为40%NH4F∶H2O2=1∶1-1∶4,浓度为50%-100%,反应温度为30-60℃,反应时间为60-600s;制备得到边长100-500nm,深度100-500nm的均匀分布的倒金字塔多晶黑硅结构。
2.根据权利要求1所述用于太阳电池制作的多晶黑硅结构的液相制备方法,其特征在于:步骤(1)中所述的多晶硅片电阻率为1-3Ω·cm,厚度为200±20μm。
3.根据权利要求1所述用于太阳电池制作的多晶黑硅结构的液相制备方法,其特征在于:步骤(1)至步骤(4)所用溶液的化学试剂纯度均不小于99.99%。
4.根据权利要求1所述用于太阳电池制作的多晶黑硅结构的液相制备方法,其特征在于:步骤(1)中溶液一的化学试剂组成为0.001-0.02M AgNO3+0.1-10M HF,反应时间为10-60s。
5.根据权利要求1所述用于太阳电池制作的多晶黑硅结构的液相制备方法,其特征在于:步骤(2)中溶液二的化学试剂组成为0.1-1M H2O2+1-10M HF,反应时间为30-300s。
6.根据权利要求1所述用于太阳电池制作的多晶黑硅结构的液相制备方法,其特征在于:步骤(3)中溶液三的化学试剂组成为H2O2∶NH4OH=1∶3,反应时间为180s。
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