[发明专利]具有单层栅极的非易失性存储装置有效
申请号: | 201510552805.1 | 申请日: | 2015-09-01 |
公开(公告)号: | CN105575970B | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | 金正勋;朴圣根;金南润 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | H01L27/11521 | 分类号: | H01L27/11521;H01L23/528;H01L29/06;H01L29/788;H01L27/11519;H01L27/11524;H01L23/535;H01L29/423 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 俞波;许伟群 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 单层 栅极 非易失性 存储 装置 | ||
1.一种非易失性存储装置,包括:
有源区域,在第一方向上延伸;
第一单层栅极,与所述有源区域交叉并且在第二方向上延伸;
第二单层栅极,与所述有源区域交叉以与所述第一单层栅极在所述第一方向上间隔开,并且在所述第二方向上延伸;以及
选择栅极,包含:第一选择栅极主线和第二选择栅极主线,其与所述有源区域交叉以与所述第一单层栅极和第二单层栅极平行;选择栅极互连线,其将所述第一选择栅极主线的第一端连接至所述第二选择栅极主线的第一端;以及选择栅极延伸部,其从所述选择栅极互连线的一部分延伸以被设置在第一单层栅极和第二单层栅极的第一端之间,
其中所述第一选择栅极主线处于所述第一单层栅极的与所述第二单层栅极相对的侧边;以及
其中所述第二选择栅极主线处于所述第二单层栅极的与所述第一单层栅极相对的侧边,
其中,所述选择栅极延伸部不与所述有源区域重叠,并且所述选择栅极延伸部的一端与所述有源区域相邻。
2.如权利要求1所述的非易失性存储装置,其中,所述第二方向是实质上与所述第一方向垂直。
3.如权利要求1所述的非易失性存储装置,还包括:
第一杂质结区域,其被设置在介于第一单层栅极与第二单层栅极之间的所述有源区域中;
第二杂质结区域,其被设置在所述有源区域的第一端中;
第三杂质结区域,其被设置在所述有源区域的第二端中;
第四杂质结区域,其被设置在介于所述第一单层栅极与所述第一选择栅极主线之间的所述有源区域中;以及
第五杂质结区域,其被设置在介于所述第二单层栅极与所述第二选择栅极主线之间的所述有源区域中。
4.如权利要求3所述的非易失性存储装置,
其中第一单层栅极和第二单层栅极是电隔离的;
其中所述选择栅极电连接至字线;
其中所述第一杂质结区域电连接至源极线;以及
其中第二杂质结区域和第三杂质结区域电连接至位线。
5.如权利要求3所述的非易失性存储装置,其中,所述第一至第五杂质结区域被掺杂N型杂质。
6.如权利要求1所述的非易失性存储装置,还包括:
第一栅极绝缘层,在所述第一单层栅极与所述有源区域之间;
第二栅极绝缘层,在所述第二单层栅极与所述有源区域之间;以及
第三栅极绝缘层,在所述选择栅极与所述有源区域之间。
7.如权利要求1所述的非易失性存储装置,还包括:
第一电介质层,在所述第一单层栅极与所述第一选择栅极主线之间;
第二电介质层,在所述第二单层栅极与所述第二选择栅极主线之间;
第三电介质层,在所述第一单层栅极与所述选择栅极延伸部之间;以及
第四电介质层,在所述第二单层栅极与所述选择栅极延伸部之间。
8.如权利要求7所述的非易失性存储装置,其中,所述第三电介质层在所述第一方向上的厚度实质上等于所述第四电介质层在所述第一方向上的厚度。
9.如权利要求8所述的非易失性存储装置,其中,第三电介质层和第四电介质层的每一个在所述第一方向上的厚度小于第一电介质层和第二电介质层的每一个在所述第一方向上的厚度。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的