[发明专利]配向角度检测装置及检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示面板技术领域，尤其涉及一种配向角度检测装置及检测方法。

背景技术

随着电子产品朝着轻、薄、小型化快速发展，各种携带式电子产品几乎都以液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)作为显示终端，特别是在摄录放影机、笔记本电脑、台式电脑、智能电视、移动终端或个人数字处理器等产品上，液晶显示器已成为电子产品重要的组成部件。

液晶显示器主要包括液晶面板和背光模组，其中，液晶面板包括对盒成型的薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)基板和彩色滤光(Color Filter，CF)基板，以及填充其间的液晶层。

在液晶面板的制作过程中，为了使液晶分子按照一定的取向排列，需要在TFT基板和CF基板的内表面形成配向层。通常配向层的形成方法是，先在基板上均匀涂覆PI(Polyimide)液固化形成PI层，再通过配向辊轴按照所需的液晶取向在PI层制作出配向角度。

新机种液晶面板初次投产或者液晶面板的偏振光扭转角(Twist Angle)规格变更时，无法精确的预知配向角度，需要将基板分为实验批和待出货批两批先后投入生产中，实验批的各制程参数以经验值进行设定而先行投入生产，而待出货批的各制程参数则需要根据实验批的实验结果进行相应的调整再投入生产。

然而，实验批投入生产中，需经过配向制程及ODF(One Drop Fill)制程后，再通过检查机检测实验批的配向角度，以对出货批的各制程参数进行相应的调整再进行生产，实验批从投入生产到检测出配向角度，则需要相当长的时间(至少需要6个小时)，在该段时间内待出货批是不能进行生产的，其结果必然造成产能损失，生产效率的下降。

发明内容

鉴于上述状况，有必要提供一种结构简单、可即时快速检测基板配向角度的检测装置及检测方法，以解决现有技术中的不足。

本发明提供一种配向角度检测装置，所述配向角度检测装置包括标记结构和标准角度对照部，所述标记结构为环状的凸出结构，所述标记结构同轴地套设于配向辊轴的端部，所述标准角度对照部设置于形成有PI层的基板母板的空白区，所述配向辊轴滚动配向时，所述标记结构接触所述空白区并在所述空白区刮出痕迹线，所述痕迹线与所述标准角度对照部对比以确定所述痕迹线的角度值。

进一步地，所述基板母板的所述空白区上开设有凹槽，所述标准角度对照部嵌设于所述凹槽中，所述标准角度对照部不高于所述凹槽的上端面。

进一步地，所述标准角度对照部包括多个不同角度的角度标记，所述角度标记为朝向一定方向的直线，所述角度标记所代表的角度为所述直线与X轴之间的夹角的角度值。

进一步地，多个不同角度的所述角度标记的角度值相差为0.5°。

进一步地，所述配向角度检测装置还包括图像控制器，所述图像控制器设置于所述基板母板的所述空白区上方，所述图像控制器用于捕捉所述痕迹线并与所述标准角度对照部进行对比，而判断所述痕迹线对应的所述角度标记并确定其角度值。

本发明还提供一种利用配向角度检测装置的配向角度检测方法，包括如下步骤：配向辊轴于形成有PI层的基板母板上滚动配向时，标记结构接触所述基板母板的空白区并在所述空白区刮出痕迹线，所述痕迹线与标准角度对照部对比以确定所述痕迹线的角度值，所述痕迹线的角度值即配向角度。

进一步地，图像控制器捕捉所述痕迹线并与所述标准角度对照部进行对比，判断所述痕迹线所对应的角度标记，所述角度标记的角度值即配向角度。

进一步地，通过放大镜及工具尺对所述痕迹线与所述标准角度对照部进行对比以确定所述痕迹线的角度值。

本发明实施例的技术方案带来的有益效果是：上述配向角度检测装置，可在配向辊轴滚动配向的同时于基板母板的空白区形成痕迹线，配向角度检测装置快速准确的得出配向角度，在配向之后即时得出配向角度，而不再需要长时间的等待，避免产能的损失，提升生产效率。

附图说明

图1是本发明的实施例的配向角度检测装置的结构示意图。

图2是图1的局部放大图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施例作进一步地详细描述。