[发明专利]具有改进气体回路的用于生产工件的装置有效

专利信息
申请号: 201510556716.4 申请日: 2015-09-02
公开(公告)号: CN105382257B 公开(公告)日: 2019-02-19
发明(设计)人: 弗兰克·云克;斯蒂芬·珀尔特纳;迪特尔·施瓦策;安德里亚·威斯纳 申请(专利权)人: SLM方案集团股份公司
主分类号: B22F3/105 分类号: B22F3/105;B28B1/00;B33Y30/00
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 张红霞;王诚华
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 具有 改进 气体 回路 用于 生产 工件 装置
【权利要求书】:

1.一种用于生产三维工件的装置(10),所述装置(10)包括:

处理室(12),所述处理室(12)容纳载架(16)和用于将原材料粉末涂覆于所述载架(16)上的粉末施加设备(14),并提供有气体入口(30)和气体出口(32);

照射设备(18),所述照射设备(18)用于将电磁或粒子辐射选择性地照射到涂覆于所述载架(16)上的原材料粉末上,以便通过加层构造方法来生产由所述原材料粉末制成的工件;以及

气体回路(34),所述气体回路(34)包括将所述处理室(12)的气体出口(32)连接到所述处理室(12)的气体入口(30)的循环管线(36)和布置在所述循环管线(36)中的过滤器系统(40),

其特征在于,所述装置(10)进一步包括:

旋风分离器系统(42),在所述循环管线(36)中布置在所述过滤器系统(40)上游,

压差检测设备(52),所述压差检测设备(52)适于检测所述循环管线(36)中所述旋风分离器系统上产生的压差,其中所述压差检测设备(52)包括在所述循环管线(36)中布置在所述旋风分离器系统下游的第一压力传感器(54)和在所述循环管线(36)中布置在所述旋风分离器系统上游的第二压力传感器(56),所述第一压力传感器(54)和所述第二压力传感器(56)直接置于所述循环管线(36)中,和

控制单元(58),所述控制单元(58)适于根据借助所述压差检测设备(52)检测的压差控制传送设备(38),所述传送设备(38)被操作以将从所述处理室(12)的气体出口(32)排放的包含颗粒杂质的气体传送通过所述循环管线(36)。

2.根据权利要求1所述的装置,其中所述过滤器系统(40)包括:

彼此平行地布置在所述循环管线(36)中的至少两个粗颗粒过滤器(48a、48b),和

在所述循环管线(36)中布置在粗颗粒过滤器(48a、48b)下游的细颗粒过滤器(50)。

3.根据权利要求1或2所述的装置,其中所述旋风分离器系统(42)包括:

粗颗粒旋风分离器(44),和/或

细颗粒旋风分离器(46),所述细颗粒旋风分离器(46)在所述循环管线(36)中布置在所述粗颗粒旋风分离器(44)下游。

4.根据权利要求3所述的装置,其中所述细颗粒旋风分离器(46)被设计为多级旋风分离器的形式。

5.根据权利要求1所述的装置,其中所述控制单元(58)适于将借助所述压差检测设备(52)检测的压差与预设的压差进行对比并控制所述传送设备(38),以使检测的压差趋向于预设的压差。

6.一种操作用于生产三维工件的装置(10)的方法,包括:

将原材料粉末涂覆到容纳在处理室(12)内的载架(16)上,所述处理室(12)提供有气体入口(30)和气体出口(32);

将电磁或粒子辐射选择性地照射到涂覆于所述载架(16)上的所述原材料粉末上,以便通过加层构造方法来生产由所述原材料粉末制成的工件;以及

将从所述处理室(12)的气体出口(32)排放的包含颗粒杂质的气体引导通过布置在循环管线(36)中的过滤器系统(40),所述循环管线(36)将所述处理室(12)的气体出口(32)连接到所述处理室(12)的气体入口(30),

其特征在于:包含颗粒杂质的气体被引导通过在所述循环管线(36)中布置在所述过滤器系统(40)上游的旋风分离器系统(42),并且所述方法进一步包括:

检测所述循环管线(36)中布置在所述循环管线(36)中的所述旋风分离器系统上产生的压差,其中借助压差检测设备(52)检测所述压差,所述压差检测设备(52)包括在所述循环管线(36)中布置在所述旋风分离器系统下游的第一压力传感器(54)和在所述循环管线(36)中布置在所述旋风分离器系统上游的第二压力传感器(56),所述第一压力传感器(54)和所述第二压力传感器(56)直接置于所述循环管线(36)中,和

根据检测的压差控制传送设备(38),所述传送设备(38)被操作以将从所述处理室(12)的气体出口(32)排放的包含颗粒杂质的气体传送通过所述循环管线(36)。

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