[发明专利]等离子体增强化学气相沉积法产生的不合格单晶硅片处理方法有效
申请号: | 201510559574.7 | 申请日: | 2015-09-06 |
公开(公告)号: | CN105140344B | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 张少伟;刘世锋;陈明;李晨露;李咏梅;石春梅 | 申请(专利权)人: | 陕西天宏硅材料有限责任公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)11350 | 代理人: | 宋秀珍 |
地址: | 712038 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 等离子体 增强 化学 沉积 产生 不合格 单晶硅 处理 方法 | ||
技术领域
本发明属太阳能电池制作技术领域,具体涉及一种等离子体增强化学气相沉积法产生的不合格单晶硅片处理方法。
背景技术
目前能源危机日益严重,人们对新能源尤其是绿色可再生能源的关注度越来越高,其中首当其冲的就是光伏太阳能电池技术,随着太阳能电池技术的不断发展,光伏发电已经走进了千家万户的生活中。在生产太阳能电池的过程当中难免会产生一些不合格的半成品,这些半成品导致整线良率降低,产品成本大幅提高,通常生产企业采用将这些不合格的半成品丢弃的办法来处理,这无疑造成资源的极大浪费,因此有必要提出改进。
发明内容
本发明解决的技术问题:提供一种等离子体增强化学气相沉积法产生的不合格单晶硅片处理方法,针对等离子体增强化学气相沉积法(PECVD)产生的达不到生产指标要求的单晶硅片进行二次制绒及返工处理,以达到提高整线的良率,降低生产成本,以及减少资源的浪费的目的。
本发明采用的技术方案:等离子体增强化学气相沉积法产生的不合格单晶硅片处理方法,包含下述步骤:
1)对等离子体增强化学气相沉积法产生的达不到生产指标要求的单晶硅片进行酸洗去除氮化硅膜;
2)二次制绒前预清洗;
3)碱液二次制绒;
4)将二次制绒后的单晶硅片进行水洗,酸洗,再水洗,然后热水空气干燥,最后烘干;
5)对单晶硅片的扩散、去磷硅玻璃、等离子体增强气象化学沉积、丝网印刷和激光刻蚀的方法均按照常规工艺执行;
6)通过测试分选合格的单晶硅片。
上述步骤1)中,将需要处理的单晶硅片浸泡于10%-20%浓度的氢氟酸溶液中15-30min,反应温度60℃,在这个过程中保证需要处理的单晶硅片完全浸泡于氢氟酸液之中并且保持液体的循环,每处理100片单晶硅片需要补充80ml-100ml纯水,15ml-20ml氢氟酸;之后依次对单晶硅片进行5-10min的水洗,3-5min的热水空气干燥以及5-10min的烘干,其中热水空气干燥分为热水浸泡1-3min和热空气干燥1-3min两部分,其热水浸泡的温度为60℃,烘干温度为80℃,可以得到完全去除了表面氮化硅膜的单晶硅片。
上述步骤2)中,将需要处理的单晶硅片完全浸泡于5%-10%浓度的异丙醇溶液3-5min,反应温度60-70℃,每处理100片单晶硅片需要补充500ml-800ml纯水以及30ml-70ml异丙醇。
上述步骤3)中,将经过预清洗的单晶硅片完全浸泡于氢氧化钾、碱制绒添加剂和纯水的混合液中,其中氢氧化钾浓度为2%-5%,碱制绒添加剂浓度为0.2%-0.5%,保持液体循环持续5-15min,反应温度80℃,每处理100片单晶硅片补充500ml-1000ml纯水,100ml-150ml氢氧化钾和5ml-10ml碱制绒添加剂。
上述步骤4)中,其中第一次水洗5-10min;酸洗为氢氟酸与盐酸的混合液,时间3-5min,其中氢氟酸浓度为4%-6%,盐酸浓度为10%-15%,每处理100片单晶硅片需要补充40ml-50ml纯水、5ml-10ml氢氟酸和10ml-15ml盐酸;第二次水洗时间为5-10min;热水空气干燥为热水浸泡1-3min和热空气干燥1-3min两部分,其温度为60℃;烘干时间为5-10min,其温度为80℃。
本发明与现有技术相比能够将原本无法继续使用的已经在表面镀有氮化硅膜的单晶硅片通过二次制绒方法转变为能够继续使用的单晶硅片,从而提高整线的良率,降低生产成本,有效减少资源的浪费。
附图说明
图1为本发明原理结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图1描述本发明的实施例。
实施例一:等离子体增强化学气相沉积法产生的不合格单晶硅片处理方法,包含下述步骤:
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的