[发明专利]一种LED芯片电极及其制作方法有效
申请号: | 201510562473.5 | 申请日: | 2015-09-07 |
公开(公告)号: | CN105118905B | 公开(公告)日: | 2017-10-10 |
发明(设计)人: | 徐平;苗振林;卢国军;周佐华 | 申请(专利权)人: | 湘能华磊光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/40 | 分类号: | H01L33/40;H01L33/38 |
代理公司: | 北京晟睿智杰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11603 | 代理人: | 于淼 |
地址: | 423038 湖南省郴*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 led 芯片 电极 及其 制作方法 | ||
1.一种LED芯片电极的制作方法,其特征在于,包括步骤:
采用干法刻蚀设备ICP刻蚀自下至上依次包含N型GaN层、量子阱和P型GaN层的外延层,形成台阶,露出N型GaN层,刻蚀深度1-2μm,切割道的宽度在10-25μm之间;
采用电子束真空蒸镀方法制作氧化铟锡薄膜导电层,薄膜厚度为腔体温度150-350℃,氧气流量5-15sccm,真空度3×10-5-3×10-7Torr;涂覆厚度2.5-3.0μm的负性光刻胶,曝光、显影,露出电极区;
采用电子束真空蒸镀方法蒸镀10-12nm的铬层,镀膜速率为镀膜功率为电子枪输出功率的0.35-0.45倍,腔体压力为1.0×10-6Torr;
采用电子束真空蒸镀方法蒸镀5-10nm的镍层,镀膜速率设为镀膜功率为电子枪输出功率的0.16-0.19倍,腔体压力为1.0×10-6Torr;
氮气氛围中对所述镍层进行退火处理,使镍层在所述铬层的表面上形成均匀分布的球状镍颗粒,球状镍颗粒之间的距离为2.5-4nm,氮气流量为5-7L/min,温度为500-540℃,时间为60-120s;
利用球状镍颗粒作为掩膜,刻蚀所述铬层,在铬层表面刻蚀形成纳米级凹状矩形坑,凹状矩形坑的长、宽、高为3-8nm,相邻凹状矩形坑之间相距2.5-4nm,刻蚀采用反应离子刻蚀机或感应耦合等离子体刻蚀机进行的干法刻蚀,所使用的刻蚀气体为BCl3、Cl2或Ar,BCl3通入的浓度为15-22ml/min,Cl2通入的浓度为20-30ml/min,Ar通入的浓度为24-33ml/min;
采用包含氯化铁、盐酸以及水的溶液腐蚀去掉球状镍颗粒;
采用电子束真空蒸镀方法依次蒸镀铝层、钛层、铂层和金层;
剥离去胶,得到LED芯片电极。
2.根据权利要求1所述的LED芯片电极的制作方法,其特征在于,所述步骤采用包含氯化铁、盐酸以及水的溶液腐蚀去掉球状镍颗粒,进一步为,采用质量分数为8-15%的氯化铁、质量分数10-18%的盐酸、其余为水的溶液腐蚀去掉球状镍颗粒,溶液温度50-65℃,反应时间5-10min。
3.根据权利要求1所述的LED芯片电极的制作方法,其特征在于,所述步骤采用电子束真空蒸镀方法依次蒸镀铝层、钛层、铂层和金层,进一步为,蒸镀条件为:镀膜速率为功率为其输出功率的0.30-0.45倍,腔体压力为1.0×10-6Torr。
4.根据权利要求1所述的LED芯片电极的制作方法,其特征在于,所述步骤剥离去胶,进一步为,采用蓝膜对金属进行剥离,待金属剥离干净后再将芯片放入去胶剂中进行超声浸泡,其中所述去胶剂包括质量分数为99.5-99.8%的N-甲基吡咯烷酮以及质量分数为0.2-0.5%的水。
5.根据权利要求1至4中任一所述的LED芯片电极的制作方法制作的LED芯片电极,其特征在于,该LED芯片电极自下而上顺次包括:铬层、铝层及蒸镀铝层、钛层、铂层和金层,其中,在所述铬层表面刻蚀有纳米级凹状矩形坑,凹状矩形坑的长、宽、高为3-8nm,相邻凹状矩形坑之间相距2.5-4nm。
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