[发明专利]一种高分辨率层序地层格架约束的地质统计学反演方法有效
申请号: | 201510569700.7 | 申请日: | 2015-09-09 |
公开(公告)号: | CN105182444B | 公开(公告)日: | 2017-06-09 |
发明(设计)人: | 范廷恩;胡光义;王宗俊;马良涛;王晖;宋来明;井涌泉;张晶玉;马淑芳;梁旭;肖大坤;刘向南;陈飞;王帅;王海峰;解超 | 申请(专利权)人: | 中国海洋石油总公司;中海油研究总院 |
主分类号: | G01V11/00 | 分类号: | G01V11/00 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司11245 | 代理人: | 徐宁,孙楠 |
地址: | 100010 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高分辨率 地层 约束 地质 统计学 反演 方法 | ||
1.一种高分辨率层序地层格架约束的地质统计学反演方法,其特征在于:所述反演方法包括以下步骤:
1)根据目的层测井数据、地震特征数据进行井-震标定,并通过多井振幅谱、多井相位谱及子波旁瓣检查提取优化目标区多井子波;
2)以井-震标定为基础,采用“井-震互动”的方法建立高分辨率层序地层格架;
3)根据目的层地震特征数据、地质先验数据、测井数据,采用可视化方法构建以高分辨率层序地层格架为基础的地质低频模型,并进行高分辨率层序地层格架约束下的稀疏脉冲反演,得到稀疏脉冲反演数据体;
4)以曲流河地质知识库为基础,结合目的层测井数据和地震特征数据,采用高分辨率层序地层格架为约束选取优化目的层砂地比和水平变程,并进行高分辨率层序地层格架约束下的地质统计学反演;
(1)在高分辨率层序地层格架约束下,以计算的单井岩性曲线为基础,计算单井垂向单砂体厚度,作为目的层河道满岸深度,运用Leeder经验公式计算目的层河道满岸宽度Wc;
(2)运用Lorenz经验公式计算目的层点坝宽度Wm;
(3)由已知的现代河流河道满岸宽度与点坝长度实测数据,根据曲流河地质知识库运用Matlab软件拟合河道满岸宽度与点坝长度的关系式;
(4)根据目的层点坝长度和点坝宽度数据正态分布特征,选取正态分布特征的最小值、平均值和正态分布峰值处数据作为水平变程,进行反演测试,遴选最佳反演结果对应参数值作为水平变程;
5)基于最终的地质统计学反演结果,运用GR测井曲线对储层进行精细标定,并运用基于最终的地质统计学反演结果提取的地震属性来预测储集砂体平面展布。
2.如权利要求1所述的一种高分辨率层序地层格架约束的地质统计学反演方法,其特征在于:所述步骤2)中,所述高分辨率层序地层格架建立方法如下:
①基于一维连续小波变换处理的GR曲线分析单井曲线旋回变化特征,并进行连井层序对比分析,建立初始的井上层序地层格架;
②根据步骤①中的单井曲线旋回变化特征/连井层序对比分析结果,通过井震标定建立初始地震层序地层格架;
③采用地层切片演绎和地震参数特征分析粗化初始地震层序地层格架;
④根据粗化后的初始地震层序地层格架修正单井/连井层序;
⑤重复步骤①~④,构建测井层序划分与地震层序划分匹配的符合地质沉积规律的高分辨率层序地层格架。
3.如权利要求1所述的一种高分辨率层序地层格架约束的地质统计学反演方法,其特征在于:所述步骤4)中,采用高分辨率层序地层格架为约束选取优化目的层砂地比包括以下步骤:
(4.1)确定目的层砂泥岩岩性门槛值,计算单井岩性曲线;
(4.2)以高分辨率层序地层格架为约束,采用马尔科夫链-蒙特卡罗算法计算目的层砂地比,得到目的层各层序砂地比。
4.如权利要求3所述的一种高分辨率层序地层格架约束的地质统计学反演方法,其特征在于:所述步骤(4.1)中,目的层砂泥岩岩性的判断条件为:如果GR<80gAPI且DEN<2150kg/m3,则目的层砂泥岩岩性为砂岩;反之,目的层砂泥岩岩性为泥岩;其中,GR为自然伽马曲线,gAPI为自然伽马曲线数值单位,DEN为密度曲线。
5.如权利要求1所述的一种高分辨率层序地层格架约束的地质统计学反演方法,其特征在于:所述步骤4)中,所述目的层河道满岸宽度Wc为:
Wc=6.8d1.54,
式中d为目的层河道满岸深度。
6.如权利要求5所述的一种高分辨率层序地层格架约束的地质统计学反演方法,其特征在于:所述步骤4)中,所述目的层点坝宽度Wm为:
7.如权利要求5所述的一种高分辨率层序地层格架约束的地质统计学反演方法,其特征在于:所述步骤4)中,所述河道满岸宽度与点坝长度的关系式为:
Wl=3.7933Wc0.6215-0.2849,
式中,Wl为目的层点坝长度,Wc为目的层河道满岸宽度。
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