[发明专利]基于宽带荧光光谱的强度比测温方法

权利要求书

1.一种基于宽带荧光光谱的强度比测温方法，包括给予合适的宽带光谱荧光材料、选定有效的激发条件、在光谱谱带范围内选取合适的两个波长，在一定温度范围内测量这两个波长的发射强度，求取不同温度下的强度比并拟合得到荧光强度比温度传感函数，测量未知温度时将对应的荧光强度比输入该温度传感函数即可；其特征在于方法步骤如下：

步骤一、选定荧光材料以及匹配的激发光源、分光元件、探测器件，组成荧光温度传感系统；

步骤二、从荧光材料的荧光光谱中选择合适的两个波长，记录它们的荧光强度比，在一定温度范围内逐渐设置改变荧光材料的温度，记录所述两个荧光强度的比值随温度的变化，拟合得到荧光强度比温度传感函数；温度传感函数不唯一，选取被监测的两个波长不同，温度传感函数也不同；

步骤三、将该荧光材料置于未知温度环境下，用步骤一中的激发光激发，记录待测温度下步骤二所述的荧光强度比，代入步骤二中的温度传感函数得到被测温度。

2.根据权利要求1所述的一种基于宽带荧光光谱的强度比测温方法，其特征在于：所使用的荧光材料为5d-4f跃迁的稀土离子发光材料、过渡金属发光材料、半导体复合发光材料、有机发光材料。

3.根据权利要求1所述的一种基于宽带荧光光谱的强度比测温方法，其特征在于：还可用于荧光激发光谱、吸收光谱、透射光谱的温度传感应用。