[发明专利]一种单点相差定位方法在审

专利信息
申请号: 201510573517.4 申请日: 2015-09-10
公开(公告)号: CN105277919A 公开(公告)日: 2016-01-27
发明(设计)人: 郁涛 申请(专利权)人: 郁涛
主分类号: G01S5/06 分类号: G01S5/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201615 上海市松*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 单点 相差 定位 方法
【权利要求书】:

1.一种能实现高精度测量的单节点相差定位方法,其特征是先在长基线相差测向解的基础上导出基于相差变化率的测距式,然后通过利用相差变化率的多通道相差测量法和相差变化率的无模糊检测法,将基于相差变化率的定位测距方程转化为短基线相差测向和无模糊程差差分的组合函数,一方面借助一维等距双基阵所测得的相差值解算无模糊程差差分值,另一方面利用一维阵列的相差测向给定目标的方位值。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征是对长基线相差测向式:

作微分处理可得到基于相差变化率的测距式:

式中:θ为单基线中点处的目标到达角;d为基线长度;Δr为程差;Δn是程差所包含的波长整周数差值;Δφ为两阵元之间的相位差;λ为波长;r为目标距离;v为探测平台的移动速度。

3.根据权利要求1和2所述的方法,其特征是由相差变化率的多通道相差检测法:

以及相差变化率的无模糊检测法:

式中:Δ2rλ是单位长度上的程差差分项。

将测距式(2)转换为与波长整周数差值无关,仅与方位角度和相差测量有关的测距式:

其中,单位长度上程差差分项Δ2rλ是一个仅与相差测量相关的分段等值函数:

4.将测距式(5)视为相差测向和无模糊程差差分的组合函数,一方面通过由一维等距双基阵测量得到的相差值解算无模糊程差差分值;另一方面利用一维阵列进行相差测向,给出目标的方位值。

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