[发明专利]一种空间分辨辐射流探测设备有效

专利信息
申请号: 201510573723.5 申请日: 2015-09-11
公开(公告)号: CN105158789B 公开(公告)日: 2017-08-15
发明(设计)人: 任宽;刘慎业;侯立飞;杜华冰;景龙飞;张文海;赵阳;杨志文;韦敏习;邓克立;姚立;杨国洪;李三伟;江少恩;丁永坤 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G01T1/29 分类号: G01T1/29
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心51210 代理人: 翟长明,韩志英
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 空间 分辨 辐射 探测 设备
【权利要求书】:

1.一种空间分辨辐射流探测设备,其特征在于,所述的设备包括摄像头(4)和在光路上依次排列的针孔透镜组件(3)、限孔成像板(5)、限孔板(6)、平响应X射线探测器F-XRD(7);所述的针孔透镜组件(3)包括针孔板(11)和环形透镜(10),所述的针孔板(11)嵌套在环形透镜(10)的中部;所述的限孔成像板(5)粘贴在限孔板(6)上;所述针孔板(11)上的针孔中心、限孔成像板(5)的限孔中心、限孔板(6)的限孔中心与平响应X射线探测器F-XRD(7)的灵敏面中心在同一条光路直线上;黑腔(1)置于针孔透镜组件(3)的前方;摄像头(4)视线与光路直线之间设置有一夹角,摄像头(4)用于实时监视限孔成像板(5)上由环形透镜(10)对黑腔(1)注入口所成的可见光像与限孔之间位置关系;

黑腔(1)注入口发出可见光,经针孔透镜组件(3)中环形透镜成像到限孔成像板(5)上,确定限孔成像板(5)限孔与黑腔(1)的可见光像的位置关系;黑腔(1)注入口发出的X射线穿过针孔透镜组件(3)中针孔后,X射线经过限孔成像板(5)的限孔和限孔板(6)的限孔,到达平响应X射线探测器F-XRD(7)的灵敏面,引起平响应X射线探测器F-XRD(7)响应,X射线能流由限孔对应于黑腔(1)注入口内部分区域的辐射流,同时限孔成像板(5)记录黑腔(1)注入口通过针孔透镜组件(3)中针孔所成X光像。

2.根据权利要求1所述的空间分辨辐射流探测设备,其特征在于,所述的环形透镜(10)主光轴垂直于所述的针孔板(11)。

3.根据权利要求1所述的空间分辨辐射流探测设备,其特征在于,所述的摄像头(4)视线与光路直线之间的夹角范围为20°~ 40°。

4.根据权利要求1所述的空间分辨辐射流探测设备,其特征在于,所述的针孔板(11)上的针孔中心与环形透镜(10)主光轴距离为百微米量级及其以下。

5.根据权利要求1所述的空间分辨辐射流探测设备,其特征在于,所述的针孔板(11)的针孔直径小于或等于百微米量级。

6.根据权利要求1所述的空间分辨辐射流探测设备,其特征在于,所述的针孔板(11)为厚度在20um~100um之间的钽片;所述的限孔板(6)为厚度为20um~100um量级的钽片。

7.根据权利要求1所述的空间分辨辐射流探测设备,其特征在于,所述的环形透镜(10)成像的物距、像距与针孔板(11)针孔成像的物距、像距分别相同。

8.根据权利要求1所述的空间分辨辐射流探测设备,其特征在于,所述的限孔成像板(5)的限孔与所述的限孔板(6)的限孔大小相同。

9.根据权利要求1所述的空间分辨辐射流探测设备,其特征在于,所述的限孔成像板(5)的限孔与限孔板(6)的限孔直径大于经理论计算的设备空间分辨率与针孔透镜组件(3)的针孔成像放大倍数的乘积,并小于所述黑腔(1)注入口尺寸与针孔透镜组件(1)的针孔成像放大倍数的乘积,同时小于平响应X射线探测器F-XRD(7)的灵敏面大小。

10.根据权利要求1所述的空间分辨辐射流探测设备,其特征在于,所述的平响应X射线探测器F-XRD(7)采用基于时间,经过绝对标定,在光子能量范围0.1~4KeV平响应X射线探测器。

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