[发明专利]宽可调谐半导体激光器输出波长控制方法及系统

权利要求书

1.一种宽可调谐半导体激光器输出波长控制方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、控制可调谐半导体激光器的注入电流，并控制可调谐半导体激光器在全波段范围内进行波长粗扫描，并记录各个光纤光栅反射峰位置；

S2、控制可调谐半导体激光器的注入电流，围绕步骤S1中所记录的光纤光栅反射峰位置进行波长精扫描；

S3、识别并动态记录光纤光栅反射峰中心位置；

S4、控制可调谐半导体激光器的注入电流，围绕步骤S3中动态记录的光纤光栅反射峰中心位置进行波长精扫描。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括步骤：

S5、在一定的时间周期内，控制半导体激光器在全波段内进行波长粗扫描，判断光纤光栅反射峰数量及其位置，以防止新的光纤光栅传感器增加。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤S1中，控制可调谐半导体激光器在40nm范围内进行波长粗扫描。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤S2和步骤S4均围绕光纤光栅反射峰中心位置左、右各100pm，按照步进1pm进行波长精扫描。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述可调谐半导体激光器从前到后依次为前光栅区、有源区、相位区和后光栅区，其输出波长通过控制前光栅区、相位区和后光栅区的注入电流实现，不同的电流组合实现不同的输出波长，因此在步骤S1之前还包括步骤：

预先测量可调谐半导体激光器不同电流组合及输出波长，形成查询列表，工作时，根据所需波长选择相应的注入电流。

6.一种宽可调谐半导体激光器输出波长控制系统，其特征在于，该系统与可调谐半导体激光器连接，该系统包括：

粗扫描单元，用于控制可调谐半导体激光器的注入电流，并控制可调谐半导体激光器在全波段范围内进行波长粗扫描，并记录各个光纤光栅反射峰位置；

精扫描单元，用于控制可调谐半导体激光器的注入电流，围绕粗扫描单元中所记录的光纤光栅反射峰位置进行波长精扫描；

识别单元，用于识别并动态记录光纤光栅反射峰中心位置；

该精扫描单元还用于控制可调谐半导体激光器的注入电流，围绕识别单元中动态记录的光纤光栅反射峰中心位置进行波长精扫描。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述粗扫描系统还用于在一定的时间周期内，控制半导体激光器在全波段内进行波长粗扫描，判断光纤光栅反射峰数量及其位置，以防止新的光纤光栅传感器增加。

8.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述粗扫描单元具体用于控制可调谐半导体激光器在40nm范围内进行波长粗扫描。

9.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述精扫描均围绕光纤光栅反射峰中心位置左、右各100pm，按照步进1pm进行波长精扫描。

10.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，与该系统连接的可调谐半导体激光器从前到后依次为前光栅区、有源区、相位区和后光栅区，其输出波长通过控制前光栅区、相位区和后光栅区的注入电流实现，不同的电流组合实现不同的输出波长，因此该系统还包括：

查询列表单元，用于预先测量可调谐半导体激光器不同电流组合及输出波长，形成查询列表，工作时，根据所需波长选择相应的注入电流。