[发明专利]一种毫米波高分辨率成像介质透镜天线设计方法有效

专利信息
申请号: 201510580282.1 申请日: 2015-09-12
公开(公告)号: CN105281044B 公开(公告)日: 2018-03-16
发明(设计)人: 陈其科;周景石;孙震;朱贵德;李道通;张永鸿;林先其;樊勇 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01Q19/06 分类号: H01Q19/06
代理公司: 成都科奥专利事务所(普通合伙)51101 代理人: 王蔚
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 毫米波 高分辨率 成像 介质 透镜天线 设计 方法
【权利要求书】:

1.一种毫米波高分辨率成像介质透镜天线的设计方法,其特征在于:

步骤一,将点源放置于物平面上,将系统的波像差定为主优化目标,将球差、RMS半径和垂轴像差定为次优化目标,设置一组透镜曲面参数的初始值进行参数优化,首先使系统的波像差达到极小值;

步骤二,将馈源天线设置在像方聚焦曲面上,计算馈源天线在物平面上形成的光斑尺寸,依据光斑中心点向外场强下降3dB时的光斑直径d,优化馈源天线排列方式,进而使得系统在物平面上形成的光斑直径d达到最小;

步骤三,改变透镜曲面参数的初始值,重复步骤一和步骤二,使得系统在物平面上形成的光斑直径d达到最小。

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