[发明专利]用于制造准直器模块和准直器桥的方法以及准直器模块有效

专利信息
申请号: 201510583882.3 申请日: 2015-09-14
公开(公告)号: CN105427914B 公开(公告)日: 2018-06-15
发明(设计)人: B·赖茨;J·弗里吉 申请(专利权)人: 西门子股份公司
主分类号: G21K1/02 分类号: G21K1/02
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 准直器 准直器层 网格形状 对准 粘合 辐射检测器 断层摄影 网格结构 吸收器壁 制造 平坦 生产
【说明书】:

发明涉及制造准直器模块和准直器桥的方法,并涉及准直器模块、准直器桥、准直器以及断层摄影仪。发明的用于辐射检测器的准直器模块具有多个准直器层。这些准直器层均具有平坦网格结构。发明人意识到如果第一准直器层具有保持结构,并且准直器层通过第一保持工具上的保持结构相对彼此对准,那么准直器模块可以特别高的精度被生产。这是因为通过这种保持结构,能够将对准的准直器层相互粘合,从而粘合的准直器层形成具有以网格形状布置的吸收器壁的准直器模块。在这种情况下,准直器层可以特别简单且仍精确的方式互相对准。通过此方式,实际网格形状特别准确地对应于预先设定的网格形状。

技术领域

本发明涉及一种用于制造准直器模块和准直器桥的方法以及一种准直器模块。

背景技术

断层摄影是一种成像方法,其中从不同的投影角度记录x射线投影。在这种方法中,包括x射线源和x射线检测器的记录单元围绕旋转轴线以及也围绕待检查的对象旋转。x射线检测器一般由多个检测器模块构成,其线性地或以二维网格的形式布置。x射线检测器的每个检测器模块包括多个检测器元件,其中每个检测器元件可检测x射线辐射。检测器元件对应于由x射线检测器记录的x射线投影的单个图片元件。由检测器元件检测的x射线辐射对应于强度值。强度值形成层析图像的重构的起始点。

从x射线源发射的x射线在x射线投影的记录期间被辐射对象散射,所以与x射线源的主射线一样,散射射线也射入x射线检测器。散射射线造成x射线投影或重构图像中的噪声,并因此降低x射线图像中差异对比的可检测性。为降低散射辐射影响,x射线检测器可具有准直器,其使仅特定空间方向的x射线辐入射在检测器元件上。这种准直器一般具有带有多个准直器模块的多个准直器桥。单个的准直器模块具有吸收器壁以吸收散射辐射并被对准以聚焦x射线源。

已知的准直器示例来自公开DE 10 2010 062 192 B3。该公开描述了自支持准直器桥,其通过将准直器模块粘合在一起而制造。这些准直器桥具有高水平的刚性并因此允许可靠的准直。然而这种准直器桥的制造仅基于已生产的准直器模块被描述。其进一步公开了特别高的内在刚性可通过一体式制造的准直器模块获得。

在现代计算机断层摄影中,采用沿两个空间方向弯曲的大x射线检测器。换句话说,检测器模块具有子模块,其相互倾斜地布置使得检测器模块实现为沿旋转轴线弯曲。前述的自支持准直器未被用于这种x射线检测器,但准直器模块被直接附加到子模块。这是因为用于这种x射线检测器的准直器具有增加的刚性和生产精度的要求。为了保证这些要求,同样需要优化准直器模块的制造工艺。

发明内容

针对该背景,本发明的目的是给出一种具有高精度的准直器模块的制造。此外,这些准直器模块将以很少的工作步骤被特别精确地加工为尽可能强的弯曲准直器桥。

这一目的通过根据权利要求1至11的方法,根据权利要求12的准直器模块,根据权利要求13的准直器桥,根据权利要求14的准直器和根据权利要求16的断层摄影仪实现。

本发明将在下文中作为方法和物理设备的形式被描述。本文提及的实施例的特征、优点和替代形式同样被转换为其他要求保护的对象,反之亦然。换句话说,针对设备的物理权利要求例如同样可以被进一步发展成结合参照方法描述或要求保护的特征。在这种情况下,方法的对应功能特征可通过对应的物理模块被实施。

发明的用于辐射检测器的准直器模块具有多个准直器层。这些准直器层均具有平坦网格结构。发明人意识到如果第一准直器层具有保持结构并且准直器层通过第一保持工具上的保持结构被相互对准,那么可以以极高的精度生产准直器模块。这是因为通过这种保持结构,能够将对准的准直器层相互粘合,从而粘合的准直器层形成构造以网格形状布置的吸收器壁的准直器模块。在这种情况下,准直器层可以特别简单且仍精确的方式被互相对准。通过此方式,实际网格形状特别准确地对应于预先设定的网格形状。

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