[发明专利]用于检测解像力的方法及解像力检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及摄像头技术领域，更具体地，涉及一种用于检测解像力的方法及解像力检测装置。

背景技术

在当今时代，数码相机、手机摄像头、工业和医疗内窥镜等光电成像仪器已经被广泛应用到人们的生活之中。光电成像仪器的测试和性能检测在设计和生产中已经变得十分重要。

在现有技术中，为了检测摄像模块(或CCM，CMOS摄像模块)的解像力(或分辨度)，广泛采用的一种方式是斜边检测方式。具体来说，基于通过由摄像模块拍摄检测图稿而获得的图像数据(所拍摄的检测图稿)，获取亮度信息或边缘轮廓(EdgeProfile)。对亮度信息或边缘轮廓进行处理(微分处理)，以产生其线性展开方程或线性谱频率(LSF，LinearSpectralFrequency)。通过变换处理(例如，快速傅里叶变换)将线性展开方程或线性谱频率从空间域转换到频率域，产生空间频率响应SFR(SpatialFrequencyResponse)。基于空间频率响应，产生各个频率对应的调制传递函数MTF(ModulationTransferFunction)分数，从而检测摄像模块的解像力，即，通过确定MTF分数是否超过预定值来评判摄像模块的解像力。通常MTF指的是输出图像的对比度和输入图像的对比度的比值。

图2示意性地示出了检测解像力的一个例子。在图2中，在(I)中示出了所拍摄的两个图像A和B。在(II)中，获得两个图像的边缘轮廓。在(III)中，获得两个图像的线性谱频率。在(IV)中，获得两个图像的空间频率响应。如(IV)所示，在MTF为25％时，图像A和B的空间频率分别是f_A和f_B。

为了进行检测，需要使用检测图稿。图3示出了现有技术中通常使用的一种检测图稿。

在实际生产过程中，由于生产线作业速度很快，因此，在摄像模块拍摄检测图稿时会产生偏差。图4示出了产生偏差的情况。在图4中，原始检测图稿为302。由于拍摄偏差，摄像模块所拍摄的区域为虚线框301。这样，由圆圈303所指示的图样没有被拍摄到。在图4中，虚线框301中的原定待检测点为304。但是，由于偏差，实际应该检测的点应当为305。因此，由于这种偏差，在实际生产过程中可能会产生较大的检测误差。

发明内容

本发明的一个目的是提供一种用于检测解像力的新技术方案。

根据本发明的第一方面，提供了一种用于检测解像力的方法，包括：获取通过摄像模块拍摄的检测图稿；在所拍摄的检测图稿中，在原待检测点附近检测斜边；在所检测的斜边上确定新检测点；以及基于新检测点，计算空间频率响应，用于检测所述摄像模块的解像力。

优选地，根据空间频率响应，产生各个频率对应的调制传递函数分数，以检测所述摄像模块的解像力。

优选地，基于新检测点，确定用于计算空间频率响应的计算区域，以及根据计算区域，计算空间频率响应。

优选地，在所拍摄的检测图稿的图案中，不同颜色的斜长条被相间布置，所检测的斜边是原待检测点附近的斜长条的斜边。

优选地，所检测的斜边是最接近原待检测点的斜长条的斜边。

优选地，在所拍摄的检测图稿的图案中，不同颜色的斜格子被相间布置，所检测的斜边是原待检测点附近的斜格子的斜边。

优选地，所检测的斜边是最接近原待检测点的斜格子的斜边。

优选地，在原待检测点附近设置测量范围。优选地，在测量范围内的斜边上确定多个新检测点。优选地，基于所述多个新检测点，计算多个空间频率响应。优选地，基于多个空间频率响应，得到结果空间频率响应，从而检测所述摄像模块的解像力。

根据本发明的第二方面，提供了一种解像力检测装置，包括：获取单元，被设置成获取通过摄像模块拍摄的检测图稿；斜边检测单元，被设置成在所拍摄的检测图稿中，在原待检测点附近检测斜边；检测点确定单元，被设置成在所检测的斜边上确定新检测点；以及计算单元，被设置成基于新检测点，计算空间频率响应，用于检测所述摄像模块的解像力。

优选地，所述计算单元还被设置成根据空间频率响应，产生各个频率对应的调制传递函数分数，以检测所述摄像模块的解像力。

优选地，所述计算单元还被设置成基于新检测点，确定用于计算空间频率响应的计算区域，以及根据计算区域，计算空间频率响应。

优选地，在所拍摄的检测图稿的图案中，不同颜色的斜长条被相间布置，所检测的斜边是原待检测点附近的斜长条的斜边。

优选地，所检测的斜边是最接近原待检测点的斜长条的斜边。