[发明专利]一种测试方法和装置在审
申请号: | 201510587688.2 | 申请日: | 2015-09-15 |
公开(公告)号: | CN105185414A | 公开(公告)日: | 2015-12-23 |
发明(设计)人: | 朱荣臻 | 申请(专利权)人: | 北京京存技术有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人: | 刘祥景 |
地址: | 100176 北京市大兴区北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 方法 装置 | ||
1.一种测试方法,其特征在于,应用于主测设备,包括:
将块设备的访问指令封装为符合外设部件互连总线扩展PCIE协议的第一数据包;
通过PCIE接口向被测设备发送所述第一数据包。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一数据包的格式包括:处理层协议包TLP。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述第一数据包包括:包头和数据有效负载,其中,所述包头用于表示需要传输的数据的类型,所述数据有效负载用于表示需要传输的数据。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述主测设备为主机设备,所述被测设备为存储设备;或者,所述主测设备为存储设备,所述被测设备为主机设备。
5.根据权利要求1至4中任一所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
通过PCIE接口接收来自被测设备的第二数据包;
依据PCIE协议对所述第二数据包进行解析,以得到相应的响应结果。
6.根据权利要求1至4中任一所述的方法,其特征在于,所述块设备的访问指令对应的接口协议包括:串行高级技术附件SATA、嵌入式多媒体卡eMMC、非易失性存储总线NVMe和通用串行总线USB中的至少一种。
7.一种测试方法,其特征在于,应用于被测设备,包括:
通过外设部件互连总线扩展PCIE接口接收来自主测设备的第一数据包;
依据PCIE协议对所述第一数据包进行解析,以得到相应的块设备的访问指令;
依据所述块设备的访问指令进行相应的测试操作。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
将所述测试操作对应的响应结果封装为符合PCIE协议的第二数据包;
通过PCIE接口向主测设备发送所述第二数据包。
9.一种测试装置,其特征在于,应用于主测设备,包括:
封装模块,用于将块设备的访问指令封装为符合外设部件互连总线扩展PCIE协议的第一数据包;及
发送模块,用于通过PCIE接口向被测设备发送所述第一数据包。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述第一数据包的格式包括:处理层协议包TLP。
11.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,所述第一数据包包括:包头和数据有效负载,其中,所述包头用于表示需要传输的数据的类型,所述数据有效负载用于表示需要传输的数据。
12.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述主测设备为主机设备,所述被测设备为存储设备;或者,所述主测设备为存储设备,所述被测设备为主机设备。
13.根据权利要求9至12中任一所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
接收模块,用于通过PCIE接口接收来自被测设备的第二数据包;
解析模块,用于依据PCIE协议对所述第二数据包进行解析,以得到相应的响应结果。
14.一种测试装置,其特征在于,应用于被测设备,包括:
接收模块,用于通过外设部件互连总线扩展PCIE接口接收来自主测设备的第一数据包;
解析模块,用于依据PCIE协议对所述第一数据包进行解析,以得到相应的块设备的访问指令;及
测试模块,用于依据所述块设备的访问指令进行相应的测试操作。
15.根据权利要求14所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
封装模块,用于将所述测试操作对应的响应结果封装为符合PCIE协议的第二数据包;
发送模块,用于通过PCIE接口向主测设备发送所述第二数据包。
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