[发明专利]一种测试方法和装置在审

专利信息
申请号: 201510587688.2 申请日: 2015-09-15
公开(公告)号: CN105185414A 公开(公告)日: 2015-12-23
发明(设计)人: 朱荣臻 申请(专利权)人: 北京京存技术有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 刘祥景
地址: 100176 北京市大兴区北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种测试方法,其特征在于,应用于主测设备,包括:

将块设备的访问指令封装为符合外设部件互连总线扩展PCIE协议的第一数据包;

通过PCIE接口向被测设备发送所述第一数据包。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一数据包的格式包括:处理层协议包TLP。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述第一数据包包括:包头和数据有效负载,其中,所述包头用于表示需要传输的数据的类型,所述数据有效负载用于表示需要传输的数据。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述主测设备为主机设备,所述被测设备为存储设备;或者,所述主测设备为存储设备,所述被测设备为主机设备。

5.根据权利要求1至4中任一所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

通过PCIE接口接收来自被测设备的第二数据包;

依据PCIE协议对所述第二数据包进行解析,以得到相应的响应结果。

6.根据权利要求1至4中任一所述的方法,其特征在于,所述块设备的访问指令对应的接口协议包括:串行高级技术附件SATA、嵌入式多媒体卡eMMC、非易失性存储总线NVMe和通用串行总线USB中的至少一种。

7.一种测试方法,其特征在于,应用于被测设备,包括:

通过外设部件互连总线扩展PCIE接口接收来自主测设备的第一数据包;

依据PCIE协议对所述第一数据包进行解析,以得到相应的块设备的访问指令;

依据所述块设备的访问指令进行相应的测试操作。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

将所述测试操作对应的响应结果封装为符合PCIE协议的第二数据包;

通过PCIE接口向主测设备发送所述第二数据包。

9.一种测试装置,其特征在于,应用于主测设备,包括:

封装模块,用于将块设备的访问指令封装为符合外设部件互连总线扩展PCIE协议的第一数据包;及

发送模块,用于通过PCIE接口向被测设备发送所述第一数据包。

10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述第一数据包的格式包括:处理层协议包TLP。

11.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,所述第一数据包包括:包头和数据有效负载,其中,所述包头用于表示需要传输的数据的类型,所述数据有效负载用于表示需要传输的数据。

12.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述主测设备为主机设备,所述被测设备为存储设备;或者,所述主测设备为存储设备,所述被测设备为主机设备。

13.根据权利要求9至12中任一所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:

接收模块,用于通过PCIE接口接收来自被测设备的第二数据包;

解析模块,用于依据PCIE协议对所述第二数据包进行解析,以得到相应的响应结果。

14.一种测试装置,其特征在于,应用于被测设备,包括:

接收模块,用于通过外设部件互连总线扩展PCIE接口接收来自主测设备的第一数据包;

解析模块,用于依据PCIE协议对所述第一数据包进行解析,以得到相应的块设备的访问指令;及

测试模块,用于依据所述块设备的访问指令进行相应的测试操作。

15.根据权利要求14所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:

封装模块,用于将所述测试操作对应的响应结果封装为符合PCIE协议的第二数据包;

发送模块,用于通过PCIE接口向主测设备发送所述第二数据包。

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