[发明专利]一种适用于TDD-LTE系统外干扰的分析方法

权利要求书

1.一种适用于TDD-LTE系统外干扰的分析方法，所述方法包括如下步骤：

第一、TDD-LTE射频信号经过下变频后变换至中频，利用高速AD对信号进行中频采样，采样速率为中频带宽的2倍以上，并且为LTE20M带宽的信号采样率30.72M的整数倍；

第二、过数字NCO将采集的中频信号搬移至基带，亦即将中频信号混频到零频；

第三、为了降低对后续计算能力的要求，将原有符号率Fsh变为低速符号率Fsl，Fsl为1.92M，或者1.92M的整数倍，Fsh/Fsl为整数；

第四、利用本地PSS时域序列与低速符号率的信号做互相关运算，得到低速符号率信号的PSS同步位置，并将此位置折算成原有符号率信号的PSS位置，即PSS粗同步位置；

第五、为了进一步精确定时，需要在原有采样率信号的粗同步位置上，向前后各滑动N个采样点，N取Fsh/Fsl，每滑动一个点计算一次FFT，并且和PSS频域序列做一次相关，得到一个相关值，窗口滑动完成以后，最大相关值的窗口起始位置即精确同步的PSS符号位置；

第六、基于PSS精确同步的位置找到SSS辅同步序列所在的符号，并利用此符号和本地SSS序列相关能够确定当前半帧是前半帧还是后半帧，从而得到帧同步的位置；

第七、基于帧同步的位置得到GP时隙或者上行子帧的时域数据，对此时域数据行加窗处理和FFT运算，对处理后的数据取模和检波处理，并以对数的形式表示功率谱；

第八、基于得到的频谱能够分析系统外干扰的特征，并且利用定向天线查找干扰的方向以及具体位置。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于第四步中得到PSS符号粗同步位置的方法如下：PSS频域图样共有三种，分别对应了TDD-LTE的三个SectorID；由于初始同步的时候并不知道SectorID是多少，所以三种图样都要做相关，最大相关值出现在那个图样中，SectorID即为相应图样对应的ID；每一种图样的PSS为62个载波的频域数据，需要进行插值得到128个载波，插值方法为对62个载波以外的载波位置填0；对128个载波做逆傅里叶变换，得到128点的时域信号；利用128点的时域信号和符号率变换后的信号做互相关运算，窗口滑动长度为半帧以上，相关结果的峰值位置代表了接收到的信号中PSS符号的起始时刻，但是这只是PSS粗同步的位置。