[发明专利]一种基于光场压缩采样的通用集成成像记录装置

说明书

技术领域

本发明属于三维立体显示领域，涉及一种集成成像三维显示的记录方法，特别涉及一种基于光场压缩采样的通用集成成像记录装置。

背景技术

集成成像技术是一种具有全视差、连续视点的新兴裸眼三维显示技术，采用光线可逆原理，系统可分为记录端与显示端两个部分。记录端主要由微透镜阵列对三维场景进行成像，生成一系列包含视差信息的微小图像，这些微图像共同组成了微单元图像阵列，被光学传感器记录下来。在显示端，由记录端获取的微单元图像阵列被显示在显示面板上，由光线可逆原理，图像发出的光线经过与记录端参数相同的微透镜阵列后，在显示空间会聚，重现三维场景。当改变显示系统中微透镜阵列的参数，即显示系统参数与记录系统参数不匹配时，直接使用记录端获得的微单元图像阵列进行显示，重构图像的质量会严重下降，甚至无法重构出正确的三维图像，因此，在集成成像系统中，显示端参数与记录端参数需要严格匹配。

目前国内外现有的研究中，往往采用两步记录转换法来解决上述问题，即将记录设备所获得的微单元图像阵列在计算机中通过虚拟微透镜阵列(参数与记录端相同)进行虚拟显示，然后通过另一组虚拟微透镜阵列或虚拟针孔阵列进行重新记录，再经过缩放或其它处理方法，最终得到与显示端参数相匹配的微单元图像阵列输出到显示端；两步记录转换法存在如下不足：1)该方法需要有关三维场景的先验知识(例如：场景中物体的深度信息)，而这些先验知识通常是无法获得的；2)该方法的信息来源是记录端所获得的微单元图像阵列，然而，在记录端的记录过程中，由于微透镜阵列的采样效应，记录的微单元图像阵列中丢失了三维场景的大量信息，因此无法完全恢复三维场景光场，无法合成适用于各种参数显示设备的高质量微单元图像阵列。

发明内容

针对上述现有技术中存在的问题和缺陷，本发明的目的在于，提供一种基于光场压缩采样的通用集成成像记录装置。

为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

一种基于光场压缩采样的通用集成成像记录装置，包括依次设置的镜头模块、光场压缩采样模块和传感器模块；

所述的传感器模块连接存储与输出模块；

所述的存储与输出模块和光场压缩模块均连接计算模块；

所述的镜头模块用于对三维场景进行选取；所述的光场压缩采样模块用于对三维场景中的光线进行压缩采样，得到二维光学图像；所述传感器模块用于记录二维光学图像；所述的计算模块用于生成随机矩阵，控制光场压缩采样模块的光学掩膜；所述的存储与输出模块用于存储或输出传感器模块记录的图像以及计算模块生成的随机矩阵。

进一步地，所述光场压缩采样模块与传感器模块之间设置有光学校正模块；所述的光学校正模块用于调整光场压缩采样模块生成的二维图像的光路。

具体地，所述光场压缩采样模块包括沿光线传输方向依次设置的光学掩膜和成像透镜。

具体地，所述光学校正模块包括沿光线传输方向依次设置的反射镜和校正透镜。

与现有技术相比，本发明具有以下技术效果：

1、本发明利用光学掩膜和成像透镜对三维场景进行压缩采样，兼顾了采样数据量和光场信息恢复要求，相对于现有集成成像记录端所采用的微透镜阵列结构会导致三维场景信息的大量丢失，从本发明所记录的图像中可近似完全恢复三维场景光场，便于后续处理生成适用于各种不同参数的集成成像三维显示系统显示的微单元图像阵列，对显示端参数没有限制，是一种通用的集成成像记录方法。

2、本发明的记录方法结构简单，采用光学掩膜和成像透镜组成的光场压缩采样模块，便于直接扩展现有的二维成像设备，在实际应用中具有重要意义。

附图说明

图1是本发明的结构示意图；

图2是本发明的实施例的结构示意图；

图3是光场压缩采样模块的工作原理图；

下面结合附图和实施例对本发明的方案做进一步详细地解释和说明。

具体实施方式

实施例

遵从上述技术方案，参见图1和2，本实施例的基于光场压缩采样的通用集成成像记录装置包括依次设置的镜头模块、光场压缩采样模块和传感器模块；所述传感器模块连接存储与输出模块；所述存储与输出模块和光场压缩采样模块均连接计算模块。

进一步地，所述光场压缩采样模块与传感器模块之间设置有光学校正模块。