[发明专利]一种岩石样品微区圈定系统

说明书

技术领域

本发明属于岩石勘测技术领域，特别涉及岩石样品矿物分析和在微观下圈定矿物。

背景技术

目前在国内外，在对地质理论知识和测试结果精确度要求越来越高的情况下，对岩石样品实验数据的准确性要求也日益提升，部分实验测试结果要求精度达到万分之一，用于测试的岩石样品的选取直接影响实验结果的准确性。

现有的样品分析技术存在以下缺陷：

大于肉眼级别的矿物和样品微区可以直接手工用工具获取。但对于毫米-微米级别的微区样品取样时，手工方法取样不仅操作起来非常复杂，而且取样准确度不高，会对实验结果造成严重的人为取样误差。

现有的激光微区稳定同位素取样分析系统可以在微观下用激光加热分解目的矿物，但是对于难以区分的矿物，这个方法则行不通。尤其是在对碎屑岩岩石样品的胶结物微区（方解石、白云石、次生石英）取样时，肉眼观察岩石样品胶结物的颜色及形态与周围矿物颗粒相比差异不大，在实际加热分解过程中很难将矿物准确区分开。

现有的微区选样技术操作过程过于复杂，即使在微观下正确区别出目的矿物，也很难对矿物进行标记，更不容易将识别出的目的矿物取出并携带至其他实验室做进一步分析测试。此处在岩石样品选取过程中，结合样品的多方面地质信息进行筛选，在制样和选样时做多种标记，可以使多种分析测试的样品之间更有关联性，得到的分析数据也更有参考和利用价值。

发明内容

本发明的目的是为了解决上述问题，提供一种岩石样品微区圈定系统。

为了实现上述目的，本发明采用的技术方案如下：

一种岩石样品微区圈定系统，包括：偏光显微镜、荧光显微镜、阴极发光显微镜、手电筒、油性笔、图像处理系统、显微镜载玻片；

其中，显微镜载玻片，可以放置磨制好的岩石样品，载玻片大小刚好放进阴极发光显微镜的样品槽子中；

阴极发光显微镜，附有真空泵，可以在近真空状态下对岩石矿物放电激发，使得各种矿物发出不同颜色的光，并在阴极发光显微镜下放电激发条件下对目的矿物所在位置拍照；关闭放电电源保持样品位置不动，并在反射光环境下对岩石再次拍照；这在对碎屑岩胶结物圈定时尤为有效；阴极发光显微镜需要具有可以放大10×5倍和10×10倍功能，方便在不同放大倍数下观察矿物；

图像处理系统，可对两张照片进行叠合，在反射光拍出的照片上圈定目的矿物的准确位置；

手电筒，用于在显微镜拍照时提供反射光源，且提供的光源可达到刺眼的亮度；

油性笔，在显微镜微观条件下，将阴极发光显微镜样品室的密封盖子取下后，结合在反射光下拍的照片和目的矿物的准确位置，在磨制好的岩石样品表面用油性笔圈出目的矿物所在的大致位置，并标记好第几个圈；

偏光显微镜，具有可以放大10×5倍和10×10倍功能，方便在不同放大倍数下观察并圈定目的矿物，对油性笔圈定矿物位置的记号圈拍照，并结合目的矿物在反射光照片中标记的准确位置，通过图像处理系统勾绘出目的矿物的准确位置；同时还具有拍照功能；

荧光显微镜，具有可以放大10×5倍和10×10倍功能，方便在不同放大倍数下观察并排除有机质对选矿的干扰；同时还具有拍照功能。

本发明与现有技术相比，具有以下优点及有益效果：

本发明专用于对岩石样品制样并在微观条件下对目的矿物进行准确圈定，排除手工和肉眼误差，使得测试结果更加精确，且操作简单，对设备要求低，从而在一定程度上克服了国内外目前对碎屑岩胶结物测试手段局限性的问题。同时该系统制作的岩石样品薄片具有便携的优势，可以充分利用多个实验室的仪器设备对样品开展测试分析，不仅降低了人员和时间成本，而且提高了实验测试精度。

附图说明

图1为本发明岩石样品进行“V”字标记并对岩石刻槽后，磨制成的小圆饼岩样示意图。

图2为本发明对小圆饼岩样进行“A”字标记后的示意图。

图3为本发明在阴极发光下对小圆饼岩样真空放电后的发光情况。

图4为本发明在反射光下对小圆饼岩样拍照结果。

图5为本发明对目的矿物大致位置圈定结果示意图。

图6为本发明对目的矿物准确位置圈定结果示意图。

图7为本发明最终制成的岩石样品薄片背面示意图。

图8为本发明最终制成的岩石样品薄片正面示意图。

具体实施方式

下面结合实施例对本发明作进一步说明，本发明的实施方式包括但不限于下列实施例。

实施例