[发明专利]大电流IGBT芯片的测试夹具在审

专利信息
申请号: 201510598391.6 申请日: 2015-09-18
公开(公告)号: CN105116178A 公开(公告)日: 2015-12-02
发明(设计)人: 程炜涛;董志意;胡少伟;王海军;叶甜春 申请(专利权)人: 江苏中科君芯科技有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人: 曹祖良;张涛
地址: 214028 江苏省无锡市新区菱*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 电流 igbt 芯片 测试 夹具
【权利要求书】:

1.一种大电流IGBT芯片的测试夹具,其特征是:包括加热温度可调的加热器(1),在所述加热器(1)上设有固定连接的测试板支撑连接架,在所述测试板支撑连接架内安装带有待测试IGBT芯片的DBC测试板(6),在测试板支撑连接架上设有允许测试连接探针嵌置的盖板探针孔(14),所述盖板探针孔(14)位于DBC测试板(6)的正上方;在所述DBC测试板(6)的正上方设有用于与测试设备连接的PCB板(5),所述PCB板(5)固定支撑在测试板支撑连接架的顶端,PCB板(5)上设有若干与测试板支撑连接架上的盖板探针孔(14)对应分布的PCB探针孔(17)。

2.根据权利要求1所述的大电流IGBT芯片的测试夹具,其特征是:所述测试板支撑连接架包括连接底板(3)以及固定于所述连接底板(3)上的支撑盖(4),连接底板(13)内包括允许DBC测试板(6)插拔的测试板安装槽(13),PCB板(5)支撑固定在支撑盖(4)的顶端。

3.根据权利要求2所述的大电流IGBT芯片的测试夹具,其特征是:所述加热器(1)内设有加热槽(2),在所述加热槽(2)内设有若干加热固定孔(10);连接底板(3)位于加热槽(2)内,且连接底板(3)上设有与加热固定孔(10)对应分布的连接固定孔(11),连接底板(3)通过嵌置于连接固定孔(11)、加热固定孔(10)内的紧固螺栓(7)与加热器(1)固定连接。

4.根据权利要求1所述的大电流IGBT芯片的测试夹具,其特征是:所述加热器(1)上设有加热开关(8)以及温度旋钮(9)。

5.根据权利要求2所述的大电流IGBT芯片的测试夹具,其特征是:所述连接底板(3)以及支撑盖(4)均采用环氧树脂制成。

6.根据权利要求1所述的大电流IGBT芯片的测试夹具,其特征是:所述PCB板(5)上设置有门极连接端口(15)以及发射极连接端口(16)。

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