[发明专利]一种光电二极管装置以及一种产生整流效应的方法有效

专利信息
申请号: 201510598628.0 申请日: 2015-09-18
公开(公告)号: CN106549077B 公开(公告)日: 2018-03-02
发明(设计)人: 郭丽伟;陈小龙;黄郊;史哲 申请(专利权)人: 中国科学院物理研究所
主分类号: H01L31/101 分类号: H01L31/101;H01L31/102;H01L31/0224
代理公司: 北京泛华伟业知识产权代理有限公司11280 代理人: 王勇,王博
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 光电二极管 装置 以及 产生 整流 效应 方法
【权利要求书】:

1.一种光电二极管装置,包括光源和整流结构,所述整流结构包括高阻光增益半导体衬底,位于所述高阻光增益半导体衬底上的石墨烯层,位于所述高阻光增益半导体衬底和所述石墨烯层上的第一ITO电极和第二电极,其中,所述第一ITO电极的一部分与所述高阻光增益半导体衬底接触,另一部分与所述石墨烯层接触,所述第二电极的一部分与所述高阻光增益半导体衬底接触,另一部分与所述石墨烯层接触,以及其中:

i)所述光源发射的光的能量大于所述高阻光增益半导体衬底的带隙,且所述光源仅辐照第一ITO电极;

ii)所述第一ITO电极的面积大于所述光源发射光的光斑面积。

2.根据权利要求1所述的光电二极管装置,其中,所述光源仅辐照所述第一ITO电极的靠近所述石墨烯层的区域。

3.根据权利要求1所述的光电二极管装置,其中,所述第一ITO电极的面积为所述光源发射光的光斑面积的至少10倍。

4.根据权利要求1所述的光电二极管装置,其中,所述高阻光增益半导体衬底为高阻有机半导体或高阻无机半导体。

5.根据权利要求1所述的光电二极管装置,其中,所述光源为紫外光源,所述高阻光增益半导体衬底为SiC,或者所述光源为可见光源,所述高阻光增益半导体衬底为Si、GaP或GaAs。

6.根据权利要求1所述的光电二极管装置,其中,所述第二电极为金属或ITO电极。

7.根据权利要求1所述的光电二极管装置,其中,还包括不透光涂覆层,所述不透光涂覆层涂覆至所述整流结构的除了所述第一ITO电极的靠近所述石墨烯层的区域之外的区域。

8.根据权利要求1所述的光电二极管装置,还包括分别电连接至所述第一ITO电极和所述第二电极的第一引线和第二引线。

9.根据权利要求8所述的光电二极管装置,还包括将所述高阻光增益半导体衬底、所述石墨烯层、所述第一ITO电极和所述第二电极以及所述第一和第二引线进行封装的封装壳体,其中所述封装壳体具有通光窗口。

10.一种采用权利要求1-9所述的光电二极管装置产生整流效应的方法。

11.根据权利要求10所述的产生整流效应的方法,其中,当给所述第一ITO电极施加正偏压时,短路光电流接近或等于暗电流;而当给所述第一ITO电极施加负偏压时,短路光电流随辐照光强的增强而增加。

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