[发明专利]一种颗粒度检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种颗粒度检测方法。

背景技术

激光粒度仪是专指通过颗粒的衍射或散射光的空间分布来分析颗粒大小的仪器，它是根据颗粒能使激光产生散射这一物理现象测试粒度分布的。由于激光具有很好的单色性和极强的方向性，所以一束平行的激光在没有阻碍的无限空间中将会照射到无限远的地方，并且在传播过程中很少有发散的现象。现有的激光粒度分析仪的构造复杂，操作难，并且对进行测试的颗粒没有进行分散处理，导致测试到的颗粒粒度真实性差。

发明内容

本发明所解决的技术问题在于提供一种颗粒度检测方法，以解决上述背景技术中的缺点。

本发明所解决的技术问题采用以下技术方案来实现：

一种颗粒度检测方法，采用颗粒度检测仪对颗粒度进行检测，具体步骤如下：

1）样品从进样漏斗进入样品槽，在样品槽的振动下，样品被振动成团聚颗粒，并持续稳定地送入圆柱漏斗；

2）分散系统对样品进行分散，将团聚颗粒分散成单个颗粒；

3）分散好的由单个颗粒组成的颗粒流在吸尘器的吸力作用下通过激光衍射系统的测试区域，激光衍射系统对通过测试区域的颗粒进行测量，并将检测到的结果传输给电脑进行处理，得出结果。

本发明所述的颗粒度检测仪，包括激光衍射系统、进样系统、分散系统，所述的激光衍射系统包括激光系统、接收系统和测试区域，激光系统和接收系统分别安装在底座的两端，且激光系统和接收系统通过电缆相连接，测试区域为设于激光系统和接收系统之间的开放区域，激光系统内设有激光源、激光扩束器，接收系统内设有多元探测器、镜头盘固定装置、镜头盘、镜头盘转动马达、光学镜头，多元探测器设于光学镜头的焦点处，激光衍射系统通过以太网连接电脑；所述的进样系统包括进样主体机、进样漏斗和样品槽，进样系统设置在平台上，且样品槽的槽口位于进样漏斗的漏斗口上方；所述的分散系统包括分散主体机和设置在分散系统主体机上的转盘、圆柱漏斗、分散管、平台，分散系统主体机设置在激光衍射系统一侧，平台设置在分散管上方，分散管的一端伸入测试区域内，分散系统通过RS485总线与激光衍射系统连接。

本发明所述的激光系统连接电源，且激光系统设有风扇冷却系统。

本发明所述的接收系统设有开盖、气动支撑架、激光安全关闭感应装置、探测器移动和对焦系统。

本发明所述的分散系统设有RS232接口和用于操控的控制面板。

本发明所述的进样系统设有敲击锤。

优点及有益效果：

（1）本发明设为激光衍射系统、分散系统和进样系统三个模块，在测试前采用分散系统和进样系统对样品进行分散，使进行测试的颗粒大小具有代表性，确保得到的结果可靠准确，且采用三个模块组合安装而成，易于移动组装；

（2）激光衍射系统的测试区域大小可以调节，不同的测试区域宽度满足于不同的颗粒粒度检测，使本发明能够满足不同的粒度检测应用要求；

（3）本发明采用干法进样系统，颗粒通过振动的形式进入分散系统，使样品的进样不受量的限制，同时本发明的进样系统内设有稳压器，这样保证进样速率不受瞬间电流/电压或其他元件温度变化的影响；

（4）本发明的进样系统设有控制面板和通信接口，使工作人员不仅可以直接通过控制面板对进样参数进行控制，还可以通过电脑软件设置通信接口来控制进样参数；

（5）本发明采用光学原理，以最快的方式实现对颗粒的粒度分布的检测和分析，测试速度快、测试范围宽、重复性和真实性好、操作简便。

附图说明

图1为本发明的一种实施例的结构示意图。

图2为本发明的一种实施例的结构示意图

图3为激光衍射系统的外部结构示意图。

图4为激光衍射系统的接收系统的内部结构示意图。

图5为进样系统的工作原理图。

具体实施方式

为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本发明。

图1-5为本发明的一种实施例的结构示意图，它包括激光衍射系统1、进样系统2、分散系统3和吸尘器4。