[发明专利]具有验证单元的光谱仪有效

专利信息
申请号: 201510604715.2 申请日: 2011-02-15
公开(公告)号: CN105259131B 公开(公告)日: 2018-11-30
发明(设计)人: A·费蒂施;L·克勒;X·刘;M·施伦佩尔;K·B·赫布利 申请(专利权)人: 光学传感器公司
主分类号: G01N21/3504 分类号: G01N21/3504;G01J3/28;G01J3/42;G01N21/03;G01N21/31;G01N21/3518;G01N21/39
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 穆森;戚传江
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 具有 验证 单元 光谱仪
【权利要求书】:

1.一种光谱测定装置,包括:

验证单元,该验证单元放置为使得由光源产生的光在所述光从光源到光电探测器的传输过程中至少一次地通过该验证单元,该验证单元包含参考气体,所述参考气体包括已知量的目标分析物;

包含分析体的样本测量单元,所述样本测量单元被放置为使得所述光在从所述光源到所述光电探测器的传输过程中至少一次通过所述样本测量单元中的分析体和所述验证单元中的参考气体中的每一个;

流切换装置,在样本分析模式过程中将样本气体引导进入所述光的路径,并在验证模式过程中引导零气体进入所述光的路径,所述零气体在所述光源产生的波长范围内具有至少一个已知且可忽略的第一光吸收率特性;以及

执行以下操作的控制器:

接收量化在所述验证模式过程中在光电探测器接收的所述光的光强度数据,

比较所述光强度数据与表示所述验证模式中的至少一个先前的测量的存储的数据集合;

所述存储的数据集合包括所述光谱测定装置的参考吸收曲线,所述参考吸收曲线具有参考曲线形状并且包括响应于光从所述光源传输通过所述验证单元中的所述参考气体而由所述光电探测器产生的参考信号,已经针对已知或校准状态的所述光谱测定装置确定所述参考吸收曲线;

所述光强度数据包括具有测试曲线形状的测试吸收曲线,以及

如果所述光强度数据和所述存储的数据集合的不一致超过了预定的阈值量,则确定出现验证失败,

所述预定的阈值量包括所述测试曲线形状和所述参考曲线形状之间的预定的允许偏差。

2.根据权利要求1所述的光谱测定装置,其中,所述光强度数据包括量化在验证模式的第一阶段在所述光电探测器接收的所述光的第一光强度数据,其中所述验证单元在所述第一阶段保持在第一温度,所述光强度数据还包括在所述验证模式的第二阶段在所述光电探测器接收的光的第二光强度数据,所述验证单元在所述第二阶段保持在与所述第一温度不同的第二温度,确定出现验证失败包括识别所述第一光强度数据的第一线形和所述第二光强度数据的第二线形偏离存储的数据集合的超过预定的阈值量的第一偏差量,所述存储的数据集合包括先前分别记录的在所述第一温度和所述第二温度下的线形。

3.根据权利要求1至2中任意一项所述的光谱测定装置,其中由所述控制器执行的操作进一步包括发出出现验证失败的警报。

4.根据权利要求2所述的光谱测定装置,进一步包括将所述验证单元保持在所述第一温度和所述第二温度中的至少其中之一的温度控制装置。

5.根据权利要求1所述的光谱测定装置,进一步包括包含所述验证单元和所述样本测量单元的光学单元。

6.根据权利要求1所述的光谱测定装置,其中所述控制器执行的操作进一步包括:

响应于确定出现验证失败,对所述光源、所述光电探测器和所述控制器的至少一个工作参数进行第一修改;

在至少一个工作参数的第一修改之后出现重复的验证模式期间,接收在所述光电探测器接收的所述光的新的光强度数据;

比较所述新的光强度数据与所述存储的数据集合,以及

确定所述新的光强度数据和所述存储的数据集合的不一致是否超过预定的阈值量,如果是,则确定所述新的光强度数据和所述存储的数据集合是否比所述光强度数据和所述存储的数据集合更接近一致。

7.根据权利要求1所述的光谱测定装置,其中:

所述光源包括激光吸收光谱仪的可调谐或可扫描激光器,且所述存储的数据集合包括所述激光吸收光谱仪的参考谐波吸收曲线,所述参考谐波吸收曲线具有参考曲线形状并且包括响应于光从所述光源传输通过所述验证单元中的所述参考气体而由所述光电探测器产生的参考信号的一阶或更高阶谐波信号的至少一个,已经针对已知或校准状态的所述激光吸收光谱仪确定所述参考谐波吸收曲线;

所述光强度数据包括具有测试曲线形状的测试谐波吸收曲线;以及

所述预定的阈值量包括所述测试曲线形状和所述参考曲线形状之间的预定的允许偏差。

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