[发明专利]一种全光纤微弱磁场测量装置

权利要求书

1.一种全光纤微弱磁场测量装置，其特征在于，包括光源模块、光纤环形器、磁敏感模块、光谱采集模块和处理模块，所述光纤环形器包括与所述光源模块连接的第一端口、与所述磁敏感模块连接的第二端口和与所述光谱采集模块连接的第三端口，所述光谱采集模块连接所述处理模块，所述磁敏感模块包括光纤和磁致伸缩元件，所述光纤固定在所述磁致伸缩元件上，所述光纤上刻写有间隔预定光纤长度的两个啁啾光纤光栅以形成全光纤FBGF-P腔，所述两个啁啾光纤光栅的反射波长、反射率以及反射光谱带宽均一致；

所述光源模块用于向所述第一端口输出稳定光谱和功率的光信号，所述第二端口用于将所述光信号注入所述磁敏感模块，以使所述全光纤FBGF-P腔向所述第二端口反射所述光信号的干涉信号，所述第三端口用于向所述光谱采集模块输出所述干涉信号，所述光谱采集模块用于采集所述干涉信号的光谱特性数据，所述处理模块用于根据所述光谱特性数据测量磁场强度。

2.根据权利要求1所述的全光纤微弱磁场测量装置，其特征在于，所述磁致伸缩元件为磁致伸缩片或磁致伸缩棒，所述光纤放置于所述磁致伸缩片表面或者插在所述磁致伸缩棒中，并且所述全光纤FBGF-P腔的两端通过粘接剂与所述磁致伸缩片或所述磁致伸缩棒紧密粘贴。

3.根据权利要求1或2所述的全光纤微弱磁场测量装置，其特征在于，所述全光纤微弱磁场测量装置还包括偏振控制模块，所述光源模块通过所述偏振控制模块连接所述第一端口，所述偏振控制模块用于控制所述光信号的偏振态并消除所述光信号的信号衰落。

4.根据权利要求3所述的全光纤微弱磁场测量装置，其特征在于，所述啁啾光纤光栅的反射光谱带宽在8nm以上。

5.根据权利要求1所述的全光纤微弱磁场测量装置，其特征在于，所述第二端口通过光纤跳线与所述磁敏感模块连接，所述第三端口通过光纤跳线与所述光谱采集模块连接。

6.根据权利要求1所述的全光纤微弱磁场测量装置，其特征在于，所述光源模块采用宽光谱的半导体光源。