[发明专利]介质检测机构、介质检测方法、印刷装置有效
申请号: | 201510609806.5 | 申请日: | 2015-09-22 |
公开(公告)号: | CN105459591B | 公开(公告)日: | 2019-11-22 |
发明(设计)人: | 樋口浩司 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | B41F33/00 | 分类号: | B41F33/00;B41J29/19 |
代理公司: | 11225 北京金信知识产权代理有限公司 | 代理人: | 苏萌萌;范文萍<国际申请>=<国际公布> |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 介质 检测 机构 方法 印刷 装置 | ||
1.一种介质检测机构,其特征在于,具备:
介质导向部,其对介质进行保持;
光传感器,其包含朝向所述介质导向部照射出照射光的照射部以及接收反射光的受光部;
壳体,
来自所述壳体的外部的光能够照射到所述介质导向部,
通过所述照射部而朝向所述介质导向部被照射的所述照射光的正反射光不会被射出至所述壳体的外部,并且不会被射出至所述受光部上。
2.如权利要求1所述的介质检测机构,其特征在于,
所述介质导向部上被照射所述照射光以及所述外部光的区域为光泽面。
3.如权利要求1所述的介质检测机构,其特征在于,
与在所述介质导向部上未保持有所述介质时相比,在所述介质导向部上保持有所述介质时,由所述受光部接收到的受光量较大。
4.如权利要求2所述的介质检测机构,其特征在于,
与在所述介质导向部上未保持有所述介质时相比,在所述介质导向部上保持有所述介质时,由所述受光部接收到的受光量较大。
5.如权利要求1所述的介质检测机构,其特征在于,
所述壳体对所述介质导向部的至少一部分和所述光传感器进行覆盖。
6.如权利要求2所述的介质检测机构,其特征在于,
所述壳体对所述介质导向部的至少一部分和所述光传感器进行覆盖。
7.如权利要求3所述的介质检测机构,其特征在于,
所述壳体对所述介质导向部的至少一部分和所述光传感器进行覆盖。
8.如权利要求4所述的介质检测机构,其特征在于,
所述壳体对所述介质导向部的至少一部分和所述光传感器进行覆盖。
9.一种印刷装置,其特征在于,具备权利要求1至权利要求8中任一项所述的介质检测机构。
10.一种介质检测方法,其特征在于,为权利要求1至权利要求8中任一项所述的介质检测机构的介质检测方法,并包括:
照射工序,从所述照射部照射出照射光;
受光工序,通过所述受光部对反射光进行接收;
处理工序,对来自所述受光部的输出进行处理;
判断工序,对介质的有无进行判断。
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