[发明专利]核磁共振测井孔隙度校正方法及装置有效
申请号: | 201510614235.4 | 申请日: | 2015-09-23 |
公开(公告)号: | CN105240001B | 公开(公告)日: | 2018-03-09 |
发明(设计)人: | 廖广志;肖立志;杨传锋;傅少庆;邵杰;杜群杰 | 申请(专利权)人: | 中国石油大学(北京) |
主分类号: | E21B49/00 | 分类号: | E21B49/00;E21B47/12;E21B47/08 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 | 代理人: | 宋扬,黄健 |
地址: | 102249 北京市昌平区府学路18*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 核磁共振 测井 孔隙 校正 方法 装置 | ||
1.一种核磁共振测井孔隙度校正方法,其特征在于,包括:
获取目标岩石对应的井壁电成像测井图像和核磁共振测井孔隙度,所述核磁共振测井孔隙度表示孔隙空间在所述目标岩石中的比例,所述目标岩石包括砾石组分和非砾石组分,所述非砾石组分包括所述孔隙空间;
依据所述目标岩石的大小、所述砾石组分的大小和所述非砾石组分的大小以及孔隙度的定义建立所述核磁共振测井孔隙度的校正模型;
依据所述井壁电成像测井图像获取所述砾石组分在所述目标岩石中的比例;
依据所述砾石组分在所述目标岩石中的比例和所述校正模型计算核磁共振校正孔隙度,所述核磁共振校正孔隙度是所述核磁共振测井孔隙度的校正值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述校正模型的检测对象是长度为2πR、宽度为H、厚度为D的目标岩石;
所述目标岩石的大小为所述目标岩石的体积,所述砾石组分的大小为所述砾石组分的体积,所述孔隙空间的大小为所述孔隙空间的体积,且所述目标岩石的体积是所述砾石组分的体积与所述非砾石组分的体积的和;
所述校正模型对应公式(1)、(2)、(3):
Vgravel+Vnon=2πR·H·D(1)
φgravel=0(3)
其中,Vgravel表示所述砾石组分的体积,Vnon表示所述非砾石组分的体积,2πR·H·D表示所述目标岩石的体积,φgravel表示所述砾石组分的孔隙度,φreal表示所述核磁共振校正孔隙度,φNMR表示所述核磁共振测井孔隙度。
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