[发明专利]三轴DC-AC连接系统

权利要求书

1.一种对被测器件（DUT）执行至少两种不同类型的测试而不改变DUT处的连接的系统，其中第一类型的测试受益于在测试仪器与DUT之间具有控制阻抗并且第二类型的测试不受益于在测试仪器与DUT之间具有控制阻抗，所述系统包括：

测试仪器；

被测器件（DUT）；以及

两个或更多个三轴线缆，其中远端靠近DUT定位并且近端靠近所述测试仪器定位，每一个线缆具有中心导体、中间导体和外部导体，其中：

中心导体在每一个线缆的远端处连接到DUT并且在每一个线缆的近端处连接到所述测试仪器；

中间导体在线缆的远端处断开；

外部导体在线缆的远端和近端二者处连接到彼此；并且

外部导体在线缆的近端处连接到与所述测试仪器共享的接地；并且

其中所述系统被配置成当中间导体未在线缆的近端处连接到彼此并且未连接到所述测试仪器时执行第一类型的测试。

2.权利要求1所述的系统，其中所述测试仪器包括第一组端子和不同于第一组的第二组端子；并且

所述系统还被配置成当线缆连接到第一组端子时执行第一类型的测试；并且

所述系统还被配置成当线缆连接到第二组端子时执行第二类型的测试。

3.权利要求1所述的系统，其中一个或多个中间导体还通过所述控制阻抗的至少十倍大的阻抗连接到电信号或接地。

4.权利要求1所述的系统，其中接地是所述仪器的内部接地。

5.权利要求1所述的系统，其中线缆的远端处的至少一个外部导体连接制作在DUT载体上。

6.权利要求1所述的系统，其中每一个线缆在中心导体与外部导体之间具有50欧姆的期望特征阻抗。

7.权利要求1所述的系统，其中所述测试仪器要求线缆具有匹配的阻抗。

8.一种对被测器件（DUT）执行至少两种不同类型的测试而不改变DUT处的连接的系统，其中第一类型的测试受益于在测试仪器与DUT之间具有控制阻抗并且第二类型的测试不受益于在测试仪器与DUT之间具有控制阻抗，所述系统包括：

用于执行第一类型的测试的第一测试仪器；

用于执行第二类型的测试的第二测试仪器；

被测器件（DUT）；以及

两个或更多个三轴线缆，其中远端靠近DUT定位并且近端靠近测试仪器之一定位，每一个线缆具有中心导体、中间导体和外部导体，其中：

中心导体在每一个线缆的远端处连接到DUT；

中间导体在线缆的远端处断开；

外部导体在线缆的远端和近端二者处连接到彼此；并且

外部导体在线缆的近端连接到与至少一个测试仪器共享的接地；并且

其中所述系统被配置成在下述情况时执行第一类型的测试：

中心导体在线缆的近端处连接到第一测试仪器；

中间导体未在线缆的近端处连接到彼此；以及

中间导体未连接到第一或第二测试仪器中的任一个；并且

其中所述系统被配置成在中心导体在线缆的近端处连接到第二测试仪器时执行第二类型的测试。

9.权利要求8所述的系统，其中一个或多个中间导体还通过所述控制阻抗的至少十倍大的阻抗连接到电信号或接地。

10.权利要求8所述的系统，其中接地是第一或第二仪器的内部接地。

11.权利要求8所述的系统，其中线缆的远端处的至少一个外部导体连接制作在DUT载体上。

12.权利要求8所述的系统，其中每一个线缆在中心导体与外部导体之间具有50欧姆的期望特征阻抗。

13.权利要求8所述的系统，其中至少一个测试仪器要求线缆具有匹配的阻抗。