[发明专利]一种Mura自动检测方法及系统有效
申请号: | 201510615715.2 | 申请日: | 2015-09-24 |
公开(公告)号: | CN105158942B | 公开(公告)日: | 2018-07-06 |
发明(设计)人: | 陶子英;王娟娟 | 申请(专利权)人: | 昆山龙腾光电有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 | 代理人: | 杨波 |
地址: | 215301 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示面板 图像 参考 自动检测 图像成像装置 数据库 调用 观测 正态分布统计 自动检测装置 采集 建立数据库 准确率 存储 | ||
本发明提供一种Mura自动检测方法,包括建立数据库,建立JND值数据库包括:利用图像成像装置采集多个参考显示面板的图像;将每个参考显示面板的图像分别分为多个区域;接收每个参考显示面板的每个区域的JND观测值;对JND观测值进行正态分布统计处理;以及存储多个参考显示面板的每个区域的图像及对应的参考JND值;利用图像成像装置采集待测显示面板的图像;将待测显示面板的图像分为多个区域;以及调用数据库中与待测显示面板的区域的图像最接近的图像的参考JND值作为实际JND值。本发明还提供一种Mura自动检测装置。本发明提供的Mura自动检测方法及系统能通过调用数据库中的参考JND值实现Mura的自动检测,提高了准确率与效率。
技术领域
本发明涉及显示技术,特别涉及一种Mura自动检测方法及系统。
背景技术
液晶显示装置(Liquid Crystal Display,LCD)具备轻薄、节能、无辐射等诸多优点,因此已经逐渐取代传统的阴极射线管(CRT)显示器。目前液晶显示器被广泛地应用于高清晰数字电视、台式计算机、个人数字助理(PDA)、笔记本电脑、移动电话、数码相机等电子设备中。
以薄膜晶体管(Thin Film Transistor,TFT)液晶显示装置为例,其包括:液晶显示面板和驱动电路,其中,液晶显示面板包括多条扫描线与多条数据线,且相邻的两条扫描线与相邻的两条数据线交叉形成一个像素单元,每个像素单元至少包括一个TFT。驱动电路包括栅极驱动电路(gate drive circuit)和源极驱动电路(source drive circuit)。随着生产者对液晶显示装置的低成本化追求以及制造工艺的提高,原本设置于液晶显示面板以外的驱动电路集成芯片被设置于液晶显示面板的玻璃基板上成为了可能,例如,将栅极驱动集成电路设置于阵列基板(Gate IC inArray,GIA)上从而简化液晶显示装置的制造过程,并降低生产成本。
液晶显示面板与驱动电路的基本工作原理为:栅极驱动电路通过与扫描线电性连接的上拉晶体管向扫描线送出栅极驱动信号,依序将每一行的TFT打开,然后源极驱动电路向数据线送出的数据信号同时将一整行的像素单元充电到各自所需的电压,以显示不同的灰阶。
随着LCD向大尺寸、轻薄化、低功耗、高分辨率的方向发展,LCD的显示不均匀缺陷(Mura)产生的几率大大增加,LCD的Mura检测成为制约LCD产业发展的重要因素。目前LCD的Mura检测主要依靠人眼检测,然而人眼检测方法的检测结果容易受人的主观因素以及外界环境的影响,且对缺陷等级判定没有统一的标准,检测准确率低、且检测效率不高。
因此,有必要提供改进的技术方案以克服现有技术中存在的以上技术问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种能提高准确率及效率的Mura自动检测方法。
本发明提供一种Mura自动检测方法,包括建立数据库,所述建立数据库包括利用图像成像装置采集多个参考显示面板的图像;将每个参考显示面板的图像分别分为多个区域;接收每个参考显示面板的每个区域的JND观测值;将每个参考显示面板的每个区域的JND观测值进行正态分布统计处理,以得到每个参考显示面板的每个区域的参考JND值;以及存储所述多个参考显示面板的每个区域的图像及对应的参考JND值;利用图像成像装置采集待测显示面板的图像;将所述待测显示面板的图像分为多个区域;以及调用所述数据库中与所述待测显示面板的区域的图像最接近的图像的参考JND值作为实际JND值。
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