[发明专利]基于LabVIEW的电路测试系统及其方法

说明书

技术领域

本发明属于集成电路测试技术领域，涉及是一种集成电路测试系统及方法，具体涉及一种基于LabVIEW的电路测试系统及其方法。

背景技术

随着电子技术的不断发展，特别是各种集成电路的不断涌现，对集成电路产品本身的性能和质量要求越来越高，因此集成电路测试就成为了保证集成电路性能、质量的关键手段之一。美国国家仪器(NI,NationalInstruments)公司的虚拟仪器开发平台LabVIEW使用图形化编程语言，不仅界面友好、简单易用，而且配套的图像处理软件包能提供丰富的图像处理与分析算法函数，可方便灵活地构建图像处理与分析系统，程序移植性好，可显著缩短系统开发周期。在完善应用软件的基础上，NI公司又推出了数据采集卡。对于NI公司的数据采集卡，可使用采集卡自带的驱动及LabVIEW中的库直接对端口进行操作。但是，NI公司的数据采集卡成本较高，令不少用户难以接受。同时，在常规的硬件测试中，往往需采用结合函数发生器和示波器的联合测试方法。

发明内容

根据以上现有技术的不足，本发明所要解决的技术问题是提出一种基于LabVIEW的电路测试系统及其方法，通过在LabVIEW环境下，使用数字式函数发生器和数字式示波器实现实时电路信号控制及处理，解决了现有技术中数据采集卡成本较高的问题，具有在不增加硬件的情况下，方便、准确、自动地调节、显示和记录电路信号波形的优点。

为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：一种基于LabVIEW的电路测试系统，电路测试系统安装在待测电路中，所述系统包括：可见光发射机，设有发射机将函数发生器输出的信号指令调制到可见光上形成可见光信号，发送到自由空间；可见光接收机，接收可见光发射机发射的可见光信号，设有光探测器实现光电信号的转换，再通过解调、自适应放大、滤波处理得到检测电路波形；测试模块，包括数字示波器和函数发生器，数字示波器连接可见光接收机并接收可见光接收机输出的检测电路波形，数字示波器的输出端连接函数发生器的输入端，数字示波器和函数发生器通过LabVIEW进行实时控制和实时待测电路测试，函数发生器的输出端连接可见光发射机输入信号指令到可见光发射机。

上述系统中，所述可见光发射机中还包括运算放大器、幅度均衡器和LED发射电路，函数发生器的输出端连接运算放大器并输入信号到运算放大器，运算放大器连接幅度均衡器，幅度均衡器连接LED发射电路，输入信号经过运算放大器、幅度均衡器和LED发射电路，由LED发射电路发射可见光信号。所述LED发射电路中设有半导体发光二极管。所述可见光接收机中还包括自适应放大电路、滤波器和接收数据电路，光探测器的输出端连接自适应放大电路，自适应放大电路的输出端连接滤波器，滤波器的输出端连接接收数据电路，使得光探测器的输出信号经过解调、自适应放大和滤波处理，接收数据电路的输出端连接数字示波器，接收数据电路输出待测电路的检测电路波形到数字示波器。所述测试模块还包括计算机，计算机连接数字示波器，判断计算检测电路波形数据的平均值，直接显示数据拟合结果。所述数字示波器和函数发生器中均设有RS232、、GPIB、USB和LAN通信接口，数字示波器和函数发生器之间使用USB通信传递信号。

一种基于LabVIEW的电路测试系统的方法，所述方法步骤包括：步骤一、系统安装完成，系统初始化，可见光发射机根据函数发生器的指令发射可见光；步骤二、可见光接收机接收可见光并进行信号数据处理；步骤三、系统等待响应值；步骤四、数字示波器输出波形到计算机，由计算机根据待测电路的幅频特性判断波形的频率数据是否足够；步骤五，如果波形的频率数据不足够，则返回步骤三；如果波形的频率数据足够，则计算波形数据的平均值；步骤六、判断测试数据是否足够，如果测试数据足够，则数据拟合显示结果；如果数据不足够，则返回步骤一。

上述方法中，所述步骤一中的可见光发出的信号在收到函数发生器的指令后，信号经过运算放大和幅频特性校正处理后，才由LED发射电路发射可见光信号。所述步骤二中可见光接收机的信号数据处理包括：可见光接收机接收可见光信号，进行光电信号转换处理，信号继续通过解调、自适应放大、滤波处理，输出检测电路波形到数字示波器。所述数字示波器通过USB通信连接函数发生器，通过USB通信对数字示波器和函数发生器远程控制，自定义波形输出，动态记录并实时分析测量数据。