[发明专利]用于片上存储管理单元容错结构的自动验证平台与方法

权利要求书

1.用于片上存储管理单元容错结构的自动验证平台，其特征在于，包括调试主机，以及通过串口连接的待测主机；

调试主机用于进行验证流程控制并在验证过程中进行编码结果检查、错误注入、译码结果检查以及对处理器进行监控和调试；

待测主机内集成有片上存储体容错结构，用于校验码编码的生成、译码逻辑和错误注入后的译码验证以及对存储体容错结构进行自动化验证程序的加载；

所述的存储体容错结构包括存储器控制模块，容错模块，选择器和存储体；存储器控制模块和容错模块分别用于在片上存储体容错结构的存储器工作模式和故障注入模式下实现对存储体的读写控制，选择器用于对存储器工作模式和故障注入模式进行选择；

存储体包括数据区和校验区，选择器控制端连接由调试主机控制的选择信号MODE_SEL控制故障注入模式和存储器工作模式的切换；

当选择信号MODE_SEL赋值选择存储器工作模式时，存储器控制模块输出一套控制信号SCTRL_S将片选信号、读写控制信号输入给存储体，统一控制数据区和校验区的读写；

当选择信号MODE_SEL赋值选择故障注入模式时，容错模块输出两套控制信号DATA_S和PAR_S分别控制数据区和校验区，实现数据区和校验区数据的分别写入或读出。

2.根据权利要求1所述的用于片上存储管理单元容错结构的自动验证平台，其特征在于，所述串口采用RS232接口。

3.根据权利要求1所述的用于片上存储管理单元容错结构的自动验证平台，其特征在于，设置存储体容错结构的集成片上设置有与调试主机连接的UART接口。

4.基于权利要求1所述的验证平台的用于片上存储管理单元容错结构的自动验证方法，其特征在于，包括如下步骤，

步骤1，完成系统初始化并使能容错功能；

步骤2，开始编码逻辑功能的验证；

2.1由调试主机向待测存储体预先写入随机数，作为预先数据和预先校验码；

2.2使能故障注入模式，对待测存储体的数据区和校验区进行单独访问，读取相应的数据和校验码，根据读取到的数据计算生成计算校验码；

2.3选择存储器工作模式，然后将计算校验码与读出的预先校验码进行比较，若比较结果不一致，则编码错误，程序结束，将结果返给调试主机；若比较结果一致，则编码正确，执行步骤3；

步骤3，开始译码逻辑功能的验证；对待测存储体进行读操作，检查是否产生校验错误及读出结果与预先写入随机数是否一致，若检出错误则译码错输，程序结束将比较结果返给调试主机；若未发生错误则译码正确且数据比较结果一致，执行步骤4；

步骤4，开始故障注入后功能的验证；

4.1进入故障注入模式，通过调试主机对存储体的校验码注入随机错误，通过随机函数保证错误发生位置随机，数据翻转位数随机；

4.2完成故障注入后，读取存储体中对应的数据，判断是否发生校验错误，若没有发生则译码逻辑错误，程序结束，将结果返给调试主机；

若检测到有校验错误，则译码逻辑正确，进行纠错；

4.3纠错后，将产生错误的地址的数据区和纠错后校验区的数值读出，并将二者与正确的预先写入随机数据做比较，若不一致，则纠错失败，译码错误，程序结束，将结果返给调试主机；

若一致，则纠错成功，译码正确，确认存储体容错结构的正确性，完成本轮测试。

5.根据权利要求4所述用于片上存储管理单元容错结构的自动验证方法，其特征在于，循环执行步骤1到步骤4，得到存储体容错结构正确性的验证数据，计算得到存储体容错结构的可靠性指标。