[发明专利]一种建筑物外立面测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及建筑物外立面的测量领域，尤其涉及一种新的低成本、高效率的建筑物外立面测量方法。

背景技术

测量建筑物外立面传统的测量手段主要是丈量，使用工具为皮尺、钢尺、手持测距仪等，对于有阻隔、无法直接测量的建筑物而言，该方法便难以实施。目前，先进的立面测量手段有近景摄影测量、三维激光扫描仪等高新技术，但仪器成本过高，内业处理复杂，甚至某些情况下与传统手段相比，优势并不突出。因此解决上述问题就显得十分必要了。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供一种利用全站仪无棱镜技术测量建筑物外立面的方法，该方法只需2人作业即可高效完成测量且精度可靠，解决了背景技术中出现的问题。

本发明的目的是提供一种建筑物外立面测量方法，包括有外业测量和内业数据处理，所述外业测量包括有以下步骤：

步骤一：在需要观测的立面前选择能尽量看到立面全景的位置设站，采用假定坐标系和自由设站，角度定向为北方向置零；

步骤二：设站完成后，使用全站仪无棱镜进行碎步测量：首先采集立面上各细部点数据，包括门窗、柱、檐等细部水平位置特征点，细部点对应点号，重合点对编号，草图勾绘时详细记录，并拍照以便内业参照；

步骤三：窗户间的垂直间距，门窗高、建筑物高等数据采用全站仪无棱镜高差测量方式获取，现场经过加减计算直接求解得出外业高差；

所述内业数据处理包括有以下步骤：

步骤四：将步骤二得到的立面上各细部点数据在CASS软件展点后改正到正立面（由于采用自由设站，立面细部点数据在CASS软件展点后是非正立面）：选择两个在同一条投影线上的点作为立面图的轴线y1，这两点尽量距离最大（楼体两端点），以其中一点作为旋转基点，使用正交功能对所有点进行测站改正，改正后轴线y1与坐标轴y轴重合；

步骤五：参照立面照片，依据外业草图点号，对应步骤四得出的正立面上点号连点绘制立面图，垂直方向数据依据外业高差计算成果，便得出建筑物外立面图。

进一步改进在于：所述步骤二测量中不通视的碎部点，无需支站，只需在下次设站处，采集两处重合点，后续测量数据进行衔接上。

进一步改进在于：所述步骤四不同测站所测的点需分开改正，测站间有重合点测量的，测站改正后再进行数据衔接。

本发明的有益效果：本发明通过外业测量和内业数据处理进行测量计算，首先进行设站测量立面各细部点数据以及外业高差，之后将得到的各细部数据改正到正立面，最后进行绘制立面图；本发明完全采用全站仪无棱镜技术来测量建筑物的外立面，该方法只需2人作业即可高效完成测量且精度可靠，适用于建筑物外立面的测量中。

附图说明

图1是本实施例的步骤二测得的各细部点的水平位置特征点数据图。

图2是本实施例步骤二测得的立面细部点数据在CASS软件展点后非正立面图。

图3是本实施例步骤四改正到正立面图。

图4是本实施例步骤五绘制的立面图。

具体实施方式

为了加深对本发明的理解，下面将结合实施例对本发明作进一步详述，该实施例仅用于解释本发明，并不构成对本发明保护范围的限定。

如图1-4所示，本实施例提供一种建筑物外立面测量方法，包括有外业测量和内业数据处理，所述外业测量包括有以下步骤：

步骤一：在需要观测的立面前选择能尽量看到立面全景的位置设站，采用假定坐标系和自由设站，角度定向为北方向置零；

步骤二：设站完成后，使用全站仪无棱镜进行碎步测量：首先采集立面上各细部点数据，包括门窗、柱、檐等细部水平位置特征点，细部点对应点号，重合点对编号，草图勾绘时详细记录，并拍照以便内业参照；

步骤三：窗户间的垂直间距，门窗高、建筑物高等数据采用全站仪无棱镜高差测量方式获取，现场经过加减计算直接求解得出外业高差；

所述内业数据处理包括有以下步骤：

步骤四：将步骤二得到的立面上各细部点数据在CASS软件展点后改正到正立面（由于采用自由设站，立面细部点数据在CASS软件展点后是非正立面）：选择两个在同一条投影线上的点作为立面图的轴线y1，这两点尽量距离最大（楼体两端点），以其中一点作为旋转基点，使用正交功能对所有点进行测站改正，改正后轴线y1与坐标轴y轴重合；

步骤五：参照立面照片，依据外业草图点号，对应步骤四得出的正立面上点号连点绘制立面图，垂直方向数据依据外业高差计算成果，便得出建筑物外立面图。