[发明专利]一种辐射检测方法及电子设备有效
申请号: | 201510622795.4 | 申请日: | 2015-09-25 |
公开(公告)号: | CN105259427B | 公开(公告)日: | 2018-12-14 |
发明(设计)人: | 薛俊东;闫文林;张治成;袁银 | 申请(专利权)人: | 联想(北京)有限公司 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 蒋雅洁;任媛 |
地址: | 100085*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 辐射 检测 方法 电子设备 | ||
1.一种辐射检测方法,包括:
利用第一检测模块检测得到第一辐射信号;
处理所述第一辐射信号,获得第一结果;
当获得触发指令时,触发第二检测模块由第一状态切换至第二状态,所述第一状态是不能检测辐射信号的状态,所述第二状态是能检测辐射信号的状态;
利用处于所述第二状态的第二检测模块检测得到第二辐射信号;处理所述第二辐射信号,获得第二结果;
当所述第二结果满足第二预定条件时,确定所述第一辐射信号是高频信号的低频包络,所述第二结果表明辐射检测结果;当所述第二结果不满足所述第二预定条件时,确定所述第一辐射信号是低频信号,所述第一结果表明所述辐射检测结果;其中,所述第二结果满足第二预定条件包括:所述第二结果大于预设门限值。
2.根据权利要求1所述的辐射检测方法,所述方法在当获得触发指令时前包括:
当所述第一结果满足第一预定条件时,生成所述触发指令;或者,
当当前时刻满足第三预定条件时,生成所述触发指令。
3.根据权利要求1所述的辐射检测方法,所述方法在当获得触发指令时前包括:当所述第一结果满足第一预定条件时,生成所述触发指令;
且所述方法还包括:
当当前时刻满足第三预定条件时,生成所述触发指令;
获得所述触发指令,触发第二检测模块由所述第一状态切换至所述第二状态;
利用处于所述第二状态的第二检测模块检测得到第二辐射信号;处理所述第二辐射信号,获得第二结果。
4.根据权利要求2所述的辐射检测方法,所述当所述第一结果满足第一预定条件时,生成所述触发指令,包括:
从所述第一结果中提取所述第一辐射信号的峰峰值;
当所述峰峰值大于等于预设阈值时,生成所述触发指令。
5.根据权利要求2所述的辐射检测方法,当所述第一结果不满足所述第一预定条件时,所述第一结果表明所述辐射检测结果。
6.根据权利要求1所述的辐射检测方法,所述方法还包括:
处理所述第一辐射信号,获得第三结果;
分析所述第三结果,按照预定策略确定所述第三结果对应的辐射强度等级;
输出表示所述辐射强度等级的提示信息。
7.根据权利要求6所述的辐射检测方法,所述方法还包括:
当所述第二结果表明所述辐射检测结果时,输出表示所述辐射强度等级由所述第二辐射信号产生的提示信息;
当所述第一结果表明所述辐射检测结果时,输出表示所述辐射强度等级由所述第一辐射信号产生的提示信息。
8.根据权利要求1至7任一项所述的辐射检测方法,所述第二检测模块处于所述第一状态的功耗低于处于所述第二状态的功耗。
9.根据权利要求1至7任一项所述的辐射检测方法,所述第一辐射信号的频率小于等于第一频率;所述第二辐射信号的频率大于等于第二频率。
10.一种电子设备,包括:
滤波器,用于检测得到第一辐射信号;
处理器,用于处理所述第一辐射信号,获得第一结果;当获得触发指令时,触发射频芯片由第一状态切换至第二状态,所述第一状态是不能检测辐射信号的状态,所述第二状态是能检测辐射信号的状态;
射频芯片,用于当处于第二状态时,检测得到第二辐射信号;
所述处理器,还用于处理所述第二辐射信号,获得第二结果;当所述第二结果满足第二预定条件时,确定所述第一辐射信号是高频信号的低频包络,所述第二结果表明辐射检测结果;当所述第二结果不满足所述第二预定条件时,确定所述第一辐射信号是低频信号,所述第一结果表明所述辐射检测结果;其中,所述第二结果满足第二预定条件包括:所述第二结果大于预设门限值。
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