[发明专利]高压肖特基二极管器件有效
申请号: | 201510626613.0 | 申请日: | 2015-09-28 |
公开(公告)号: | CN105161546B | 公开(公告)日: | 2018-06-19 |
发明(设计)人: | 杨新杰 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L29/872 | 分类号: | H01L29/872;H01L29/06 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 丁纪铁 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 重掺杂P型区 高压P阱 肖特基二极管器件 外围 重掺杂 肖特基二极管 场氧隔离 耐压能力 不接触 接触孔 俯视 环绕 包围 | ||
1.一种高压肖特基二极管器件,其结构包含:
一N型深阱;
在N型深阱的外围,俯视平面上,有一环形的高压P阱环绕包围N型深阱,且与N型深阱不接触;
高压P阱中还具有重掺杂P型区;
在N型深阱中,具有环形的P阱,以及位于环形P阱外围环形的N阱,P阱与N阱之间以场氧隔离;
P阱中具有重掺杂P型区,N阱中具有重掺杂N型区,重掺杂P型区和重掺杂N型区上有接触孔形成引出;
其特征在于:
所述N型深阱和其外围的高压P阱是位于一P型埋层之上,所述P型埋层往外侧延伸,高压P阱和N型深阱的投影都位于P型埋层范围之内。
2.如权利要求1所述的高压肖特基二极管器件,其特征在于:所述N型深阱底部与P型埋层接触。
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