[发明专利]一种氮化物系发光二极管的外延生长方法有效
申请号: | 201510627355.8 | 申请日: | 2015-09-28 |
公开(公告)号: | CN105206719B | 公开(公告)日: | 2018-01-05 |
发明(设计)人: | 林志伟;陈凯轩;张永;卓祥景;姜伟;方天足;陈亮 | 申请(专利权)人: | 厦门乾照光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/14 |
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地址: | 361100 福建省厦门市翔安区厦*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 氮化物 发光二极管 外延 生长 方法 | ||
1.一种氮化物系发光二极管的外延生长方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:提供一衬底;
S2:在所述衬底上依次形成非掺层u-GaN、n型导电层n-GaN、有源区和限制层P-AlGaN;
S3:在所述限制层P-AlGaN上形成V型坑蚀刻层;
S4:在所述V型坑蚀刻层上形成V型坑成核层;
S5:在所述V型坑成核层上形成V型坑三维快速层;
S6:在所述V型坑三维快速层上形成V型坑二维快速层;
S7:在所述V型坑二维快速层上依次形成P型导电层、P型接触层和ITO导电层。
2.根据权利要求1所述的一种氮化物系发光二极管的外延生长方法,其特征在于:所述步骤S3中采用的外延条件为:反应室压力50mbar,反应室温度900度,生长速率TMGa流量4sccm,大盘转速1000转/秒。
3.根据权利要求1所述的一种氮化物系发光二极管的外延生长方法,其特征在于:所述步骤S4中采用的外延条件为:反应室压力700mbar,反应室温度800度,生长速率TMGa流量30sccm,大盘转速100转/秒。
4.根据权利要求1所述的一种氮化物系发光二极管的外延生长方法,其特征在于:所述步骤S5中采用的外延条件为:反应室压力700mbar,反应室温度900度,生长速率TMGa流量45sccm,大盘转速100转/秒。
5.根据权利要求1所述的一种氮化物系发光二极管的外延生长方法,其特征在于:所述步骤S6中采用的外延条件为:反应室压力150mbar,反应室温度1000度,生长速率TMGa流量80sccm,大盘转速1000转/秒。
6.根据权利要求1所述的一种氮化物系发光二极管的外延生长方法,其特征在于:还包括一n电极,所述n电极制作在通过蚀刻工艺暴露出的部分n型导电层n-GaN之上。
7.根据权利要求6所述的一种氮化物系发光二极管的外延生长方法,其特征在于:还包括一电极隔离层,所述电极隔离层制作在所述n电极和所述有源区、限制层P-AlGaN、V型坑蚀刻层、V型坑成核层、V型坑三维快速层、V型坑二维快速层、P型导电层、P型接触层以及ITO导电层之间。
8.根据权利要求1所述的一种氮化物系发光二极管的外延生长方法,其特征在于:还包括一p电极,所述p电极制作在所述ITO导电层之上。
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