[发明专利]二维核磁共振弛豫时间的测量方法

权利要求书

1.一种二维核磁共振弛豫时间的测量方法，其特征在于，包括：

向被测样品发射DEFIR脉冲序列，根据DEFIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第一幅值A_DEFIR(logT₁)；

多次向被测样品发射FIR脉冲序列，根据FIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第二幅值A_FIR(logT₁)；

将A_DEFIR(logT₁)和A_FIR(logT₁)带入第一公式中，得到T₁分布与T₁/T₂分布的函数关系，所述第一公式为：

其中，T₂为横向弛豫时间，τ₁为样品的重复极化时间，τ₂＝4τ_DE，τ_DE为半回波间隔时间；

根据所述T₁分布与T₁/T₂分布的函数关系，推导获得T₁-T₂分布；

其中，所述向被测样品发射DEFIR脉冲序列，具体包括：多次向被测样品发射驱动平衡DE脉冲序列，测得被测样品的平衡磁化矢量M_eq，所述DE脉冲序列的数量为预设的第一数值，每次发射所述DE脉冲序列的间隔时间为样品的重复极化时间τ₁；向被测样品发射180度翻转脉冲；多次向被测样品发射FIR脉冲序列，测得被测样品的一维T₁分布函数，FIR脉冲序列的数量为预设的第二数值，每次发射所述FIR脉冲序列的间隔时间为TW_FIR；

FIR脉冲序列每循环一次重复极化时间TW_FIR就改变一次；0<TW_FIR<T₁；其中，当被测样品为已知类别时，T₁为预设的已知样品的纵向弛豫时间；当被测样品为未知类别时，T₁为4s；

所述方法，还包括：对DEFIR脉冲序列的频率偏置进行验证。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述向被测样品发射DE脉冲序列包括：

向被测样品发射90°脉冲，间隔半回波间隔时间后发射180°脉冲，间隔一个回波间隔时间后发射180°脉冲，间隔半回波间隔时间后发射90°；

所述向被测样品发射FIR脉冲序列包括：

向被测样品发射90°脉冲，间隔半回波间隔时间后发射180°脉冲，间隔一个回波间隔时间后发射180°脉冲，间隔半回波间隔时间后发射90°脉冲。

3.根据权利要求1所述的二维核磁共振弛豫时间的测量方法，其特征在于，所述根据DEFIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第一幅值A_DEFIR(logT₁)，具体包括：

根据第二公式，计算获得所述第一幅值A_DEFIR(logT₁)，所述第二公式为：

其中，f₁(log T₁)表示一维T₁分布函数，M₀为目标磁化矢量，M₀＝-M_eq。

4.根据权利要求1所述的二维核磁共振弛豫时间的测量方法，其特征在于，所述根据FIR脉冲序列的回波信号，获得纵向弛豫时间T₁分布谱的第二幅值A_FIR(logT₁)，包括：

根据第三公式，计算获得所述第二幅值A_FIR(logT₁)，所述第三公式为

A_FIR(logT₁)＝2f₁(logT₁)；

其中，f₁(log T₁)表示一维T₁分布函数。