[发明专利]一种闪烁晶体探测器增益的校正方法和装置

权利要求书

1.一种闪烁晶体探测器增益的校正方法，其特征在于，校正过程采用的放射源能够放射出至少两种不同能量的放射线，该放射源的本底能谱具有至少两个能区，所述方法包括：

采集闪烁晶体探测器后端的电信号；

分别统计来自固定位置晶体的所述至少两个能区的电信号的实际计数率；

根据所述至少两个能区的电信号的实际计数率，调整闪烁晶体探测器的增益；

所述根据所述至少两个能区的电信号的实际计数率，调整闪烁晶体探测器的增益，具体包括：

判断所述至少两个能区的实际计数率之和是否在所述至少两个能区的标准计数率之和的阈值范围内，如果否，调整闪烁晶体探测器的增益，以使所述至少两个能区的实际计数率之和在所述至少两个能区的标准计数率之和的阈值范围内。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据至少两个能区的电信号的实际计数率，调整闪烁晶体探测器的增益，还包括：

待所述至少两个能区的实际计数率之和在所述至少两个能区的标准计数率之和的阈值范围内后，判断所述至少两个能区的实际计数率的比值是否与所述至少两个能区的计数率的标准比例一致，如果否，对闪烁晶体探测器的增益进行细调整，直至所述至少两个能区的实际计数率的比值与所述至少两个能区的计数率的标准比例一致。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述闪烁晶体探测器包括特定闪烁晶体，所述特定闪烁晶体具有长寿命本底放射性，其能够放射出至少两种不同能量的放射线，其本底能谱具有至少两个能区；所述放射源为所述特定闪烁晶体。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述采集闪烁晶体探测器后端的电信号后，所述分别统计来自固定位置晶体的所述至少两个能区的电信号的实际计数率之前，还包括：

确定每个电信号对应的晶体位置。

5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，每个能区包括至少一个单道区间，所述单道区间至少包括一个道址，所述分别统计来自固定位置晶体的所述至少两个能区的电信号的实际计数率，具体为：

分别统计来自固定位置晶体的至少两个单道区间的电信号的实际计数率；所述至少两个单道区间中的各个单道区间分别属于不同的能区。

6.一种闪烁晶体探测器增益的校正装置，其特征在于，校正过程采用的放射源能够放射出至少两种不同能量的放射线，该放射源的本底能谱具有至少两个能区，所述装置包括：

采集单元，用于采集闪烁晶体探测器后端的电信号；

统计单元，用于分别统计来自固定位置晶体的所述至少两个能区的电信号的实际计数率；

调整单元，用于根据所述至少两个能区的电信号的实际计数率，调整闪烁晶体探测器的增益；

所述调整单元包括：

第一子判断单元，用于判断所述至少两个能区的实际计数率之和是否在所述至少两个能区的标准计数率之和的阈值范围内，如果否，调整闪烁晶体探测器的增益，以使所述至少两个能区的实际计数率之和在所述至少两个能区的标准计数率之和的阈值范围内。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述调整单元还包括：

第二子判断单元，用于待所述至少两个能区的实际计数率之和在所述至少两个能区的标准计数率之和的阈值范围内后，判断所述至少两个能区的实际计数率的比值是否与所述至少两个能区的计数率的标准比例一致，如果否，对闪烁晶体探测器的增益进行细调整，直至所述至少两个能区的实际计数率的比值与所述至少两个能区的计数率的标准比例一致。

8.根据权利要求6或7所述的装置，其特征在于，所述闪烁晶体探测器包括特定闪烁晶体，所述特定闪烁晶体具有长寿命本底放射性，其能够放射出至少两种不同能量的放射线，所述特定闪烁晶体的本底能谱具有至少两个能区；所述放射源为所述特定闪烁晶体。