[发明专利]短路检测模块有效

专利信息
申请号: 201510634137.7 申请日: 2015-09-29
公开(公告)号: CN105629121B 公开(公告)日: 2018-11-27
发明(设计)人: 郭佃波;黄英杰;A·辛 申请(专利权)人: 意法半导体亚太私人有限公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华
地址: 新*** 国省代码: 新加坡;SG
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摘要:
搜索关键词: 短路 检测 模块
【权利要求书】:

1.一种短路检测电路,包括:

第一上拉/下拉级;

耦接至所述第一上拉/下拉级的第二上拉/下拉级,所述第一和第二上拉/下拉级被耦接以接受输入信号并且在接收到使能信号时生成输出驱动信号;以及

比较器级,所述比较器级被耦接以接受所述输入信号和所述输出驱动信号并且在接收到所述使能信号时基于所述输出驱动信号是否与所述输入信号处于相同的逻辑状态来产生错误信号,所述错误信号指示是否存在短路。

2.如权利要求1所述的短路检测电路,进一步包括将所述第一上拉/下拉级耦接至所述第二上拉/下拉级的电阻器。

3.如权利要求2所述的短路检测电路,其中,所述电阻器是可变电阻器,并且相关联的短路阈值由所述可变电阻器来确定,所述阈值为所述短路检测电路提供灵敏度调整。

4.如权利要求1所述的短路检测电路,其中,所述比较器级包括异或逻辑门,所述短路检测电路的所述输入信号和所述输出驱动信号被耦接至所述异或逻辑门。

5.如权利要求4所述的短路检测电路,其中,所述比较器级错误输出的可用性由所述使能信号来选通。

6.如权利要求1所述的短路检测电路,其中,所述第一上拉/下拉级包括耦接至NMOS晶体管的与门以及耦接至PMOS晶体管的与非门。

7.如权利要求1所述的短路检测电路,其中,所述第二上拉/下拉级包括耦接至NMOS晶体管的与门以及耦接至PMOS晶体管的或门。

8.如权利要求2所述的短路检测电路,其中,所述电阻器被耦接于所述第一上拉/下拉级与所述输出驱动信号之间,从而使得所述第一上拉/下拉级弱于所述第二上拉/下拉级。

9.如权利要求1所述的短路检测电路,其中,错误检测由使能信号来选通。

10.一种包括如权利要求1所述的短路检测电路的电子装置,其中,所述电子装置包括移动电话、智能电话、膝上计算机、平板计算机、桌上计算机、交互式屏幕、车辆仪表板显示器、器具控制面板、广告牌、监视器、或电视中的一个或多个。

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