[发明专利]一种西数硬盘修复方法

权利要求书

1.一种西数硬盘修复方法，其特征在于包括以下步骤：

S1：从硬盘电路板中获取ROM，并从ROM中解析地图模块，从获取的地图模块中，解析磁头位图信息；

S2：修改位图信息，屏蔽坏的磁头；

S3：将微码匹配的11号模块加载到缓存，加载ATA使硬盘正常起转，回写使硬盘能正常访问数据的主要固件。

2.根据权利要求1所述的一种西数硬盘修复方法，其特征在于所述S1的详细步骤如下：

S101：通过ATA指令获取西数硬盘ROM；

S102：检索ROM中的数据，搜索地图模块头部特征，该特征位置向后偏移5个字节位置找到地图模块起始位置，在向后偏移2个字节位置找到记录地图模块大小的位置；

S103：根据S102的地图模块大小及起始位置扫描整个地图模块，地图块头部“0x06”字节为地图模块有效数据起始位置，该位置可以得到有效数据长度，找到地图模块的磁头位图信息，磁头位图信息包括物理磁头数信息、正在使用的磁头数信息、正在使用的位图信息和记录缺省位图信息。

3.根据权利要求2所述的一种西数硬盘修复方法，其特征在于所述S2的详细步骤如下：

S201：根据磁头测试结果，找到损坏的磁头和坏道；

S202：屏蔽损坏的磁头，执行公式：

正在使用的磁头数-坏的磁头数＝要修改的磁头数；

正在使用的位图数值综合-损坏的位图数值＝要修改的位图数值；

S203：执行0x10000-有效数据字节总和＝有效数据校验值，然后将校验写入最后2个字节覆盖旧的校验，让修改的磁头位图生效；

S204：对整个磁头地图模块进行有效校验，并将4字节的校验码写入磁头地图模块头部向后偏移12字节的位置。

4.根据权利要求3所述的一种西数硬盘修复方法，其特征在于S204中校验的算法如下：

S2041：设变量：效验值数据和，校验值赋初始值0；

S2042：将磁头地图模块待检验数据按照4字节划分成N份：N＝固件区扇区长度*512/4；

S2043：计算每一份4字节的DWORD型无符号整数之和，赋值给数据和；

S2044：执行公式：校验值＝0x100000000-数据和；

S2045：将校验值数据转换成4字节后，按照低前高后排列。

5.根据权利要求3所述的一种西数硬盘修复方法，其特征在于所述S3的详细步骤如下：

S301：加载同微码ATA，通过查看ROM中4F模块的微码，从其他好盘中找到一个能与故障盘的4F模块中微码一致的11模块，并将微码一致的11模块加载至损坏硬盘缓存中；

S302：使用好磁头读取使硬盘能正常访问数据的主要固件，并将主要固件备份在其他存储介质中；

S303：重新回写主要固件到磁道，重新回写S302备份出来的主要模块到磁道，主要是为了让存在坏道受损的地方，重新刷写一次主要模块的结构，让硬盘自身能够通过校验检测。