[发明专利]一种直接入射式光臂放大型三维扫描测头有效

专利信息
申请号: 201510639541.3 申请日: 2015-09-30
公开(公告)号: CN105136038B 公开(公告)日: 2019-06-07
发明(设计)人: 张白;牛勇;吴国强 申请(专利权)人: 北方民族大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 四川力久律师事务所 51221 代理人: 林辉轮
地址: 750021 宁夏回族*** 国省代码: 宁夏;64
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摘要:
搜索关键词: 一种 直接 入射 式光臂放 大型 三维 扫描
【权利要求书】:

1.一种直接入射式光臂放大型三维扫描测头,其特征在于,包括:

三个激光源,用于发射三条激光束,即激光束一(21)、激光束二(22)和激光束三(23);

三个光电探测器,即光电探测器一(31)、光电探测器二(32)和光电探测器三(33),所述光电探测器一(31)与激光源一(11)相对设置,且所述光电探测器一(31)用于接收所述激光源一(11)直接入射的所述激光束一(21);所述光电探测器二(32)与激光源二(12)相对设置,且所述光电探测器二(32)用于接收所述激光源二(12)直接入射的所述激光束二(22);所述光电探测器三(33)与激光源三(13)相对设置,且所述光电探测器三(33)用于接收所述激光源三(13)直接入射的所述激光束三(23);

测头基座(4),所述测头基座上设有所述激光源一(11)、激光源二(12)和激光源三(13),以及用于检测的测杆(6)和测球(7);

平移部件,用于使所述测头基座(4)做直线运动,其中所述光电探测器一(31)、光电探测器二(32)、光电探测器三(33)的入射面相互垂直设置,所述平移部件用于将所述测头基座(4)分别沿相对所述光电探测器一(31)、光电探测器二(32)、光电探测器三(33)的三个相互垂直的方向移动;

回复部件,用于将所述测头基座(4)回复至初始位置;

处理系统,根据所述光电探测器一(31)、光电探测器二(32)和光电探测器三(33)上分别获得的激光束一(21),激光束二(22)和激光束三(23)入射位置变化值,计算得到所述测球(7)的三维位移变化值。

2.根据权利要求1所述的一种直接入射式光臂放大型三维扫描测头,其特征在于,所述平移部件包括至少一个导向槽一(81),所有所述导向槽一(81)上沿垂直方向设有至少一个导向槽二(82),所有所述导向槽二(82)上沿垂直方向设有至少一个导向槽三(83),所有所述导向槽三(83)上滑动连接所述测头基座(4)。

3.根据权利要求1所述的一种直接入射式光臂放大型三维扫描测头,其特征在于,还包括壳体(9),所述光电探测器一(31)、光电探测器二(32)与光电探测器三(33)连接在所述壳体内,所述回复部件(5)为弹簧,其中一端连接在所述壳体(9)上、另一端连接在所述测头基座(4)上。

4.根据权利要求3所述的一种直接入射式光臂放大型三维扫描测头,其特征在于,至少一个所述光电探测器旋转连接在所述壳体(9)上。

5.根据权利要求1-4任一所述的一种直接入射式光臂放大型三维扫描测头,其特征在于,所述光电探测器一(31)、光电探测器二(32)与光电探测器三(33)为位置敏感探测器。

6.根据权利要求5所述的一种直接入射式光臂放大型三维扫描测头,其特征在于,所述光电探测器一(31)、光电探测器二(32)与光电探测器三(33)均为一维位置敏感探测器。

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