[发明专利]基于高光谱透射技术谱峰面积的脐橙糖度检测快速建模法

说明书

技术领域

本发明涉及水果品质无损检测技术领域，尤其涉及一种基于高光谱透射技术谱峰面积的脐橙糖度检测快速建模法。

背景技术

我国是水果生产大国，产量常年位居世界首位，约占世界水果总产量的19%。水果产业发展迅速，每年均呈上升的趋势，水果产业已经发展成为我国许多地方农民创收的支柱产业，对农业和经济有着极大的促进和发展作用。尽管我国是果业生产大国，但是整体上出口量依然很小，并非水果贸易强国。柑橘类水果是世界第一大水果，我国目前柑橘产量在世界各国之间位居第三位（占10.8%），前两位分别是巴西（占23.7%）和美国（占15.9%）；到目前为止，我国水果出口量还未超过水果年度总产量的4%。与此同时，随着国内人民消费水平的提高，消费者的消费形态由对产品量的要求进化到对质的要求，在购买水果时人们不仅仅只注重水果的外部品质，对于水果的内部品质，尤其是如糖度、口感和营养成分等内部品质的要求也相应提高。为了促进果品营销，提高产品增值，对水果进行商品化处理即对水果采收后进行再加工和再处理，是实现水果品质，提升市场竞争力，扩大出口，提高水果种植和经营者经济效益不可或缺的手段；其中如何对果品内部品质进行快速无损检测是进行一系列水果商品化处理的重要步骤。

由于机器视觉技术和光谱技术具有快速、无损和可靠的优点，目前在农产品无损检测中得到广泛应用。高光谱成像技术是一种图像及光谱的融合技术，可以同时获取检测对象的空间及光谱信息。图像数据和光谱数据相结合，能够很好的结合外部特征具有针对性的对物体内部物理结构及化学成分信息进行获取，具有很好的应用前景。但对脐橙类厚皮水果来说，较难获取内部信息，同时高光谱图像信息数据量较大，增加了数据处理的难度和时间。

发明内容

为了解决脐橙皮厚、内部信息难获取、高光谱图像数据量大，在基于高光谱图像技术的快速在线检测过程中难以精确快速检测其糖度等难题，本发明提供了一种基于高光谱透射技术谱峰面积的脐橙糖度检测快速建模法，对脐橙糖度建立预测模型，有效提取高光谱信息，提高了建模效率以及检测精度。

本发明的目的是这样实现的：

由于脐橙糖度是衡量脐橙品质的一项重要指标，透射方法既可以使与脐橙糖度相关的内部光谱信息得到有效的获取，而又不会因为光源功率过高造成脐橙内部损伤；利用高光谱图谱峰面积进行脐橙糖度判别，较少光谱变量复杂的建模过程，计算速度快，准确率较高，可以满足对脐橙糖度快速无损检测的要求。

具体地说，本方法包括以下步骤：

①获取脐橙样品半透射高光谱图谱

采用高光谱仪检测脐橙样品的高光谱图谱，设定采集方式、曝光时间、光源功率、波长范围、分辨率和采集速度；

②利用化学方法测定脐橙样品的糖度值

按照国标GB/T8210所述测定方法测定脐橙样品的糖度值；

③选取脐橙样品平均高光谱图谱

选取脐橙平均高光谱图谱，根据脐橙高光谱图谱特性，在MATLAB环境下对光谱曲线进行光谱预处理，去除非目标信息、仪器噪音、背景干扰以及去除水峰等无关变量信息之后，简化光谱信息，保留重要信息；

④计算高光谱图谱谱峰面积

在MATLAB环境下，对光谱曲线进行拟合，自适应选取光谱区域下波峰值和波谷值，通过积分计算高光谱图谱谱峰面积；

⑤建立脐橙样品糖度预测模型，进行品质检测

利用脐橙样品自适应选取光谱区域下左右谱图谱峰面积之比作为模型的输入变量，对未知脐橙样品进行糖度品质检测，对脐橙糖度建立线性回归定量检测模型，利用预测集相关系数和预测集均方根误差来评价检测模型的精度。

本发明具有下列优点和积极效果：

①通过采集脐橙样品的半透射高光谱，从而可以有效解决脐橙皮较厚光谱法难以获取内部品质的难点；

②利用高光谱图谱峰面积与脐橙样品糖度变化的相关关系，减少了高光谱数据量大对模型运算速度的影响；

③该快速建模法可以满足高速厚皮类水果在线检测的要求，完成在短时间内获取有效的光谱信号并建立回归模型，提高了检测效率和检测精度。

总之，本发明基于高光谱技术通过半透射方式采集脐橙样品高光谱图谱可以有效获取脐橙内部品质信息，提高水果内部品质的检测水平和检测效率；该建模法建模效率高、准确率高，模型运算速度快，可以快速检测水果的糖度内部品质指标，对水果的内部品质进行评价。

附图说明

图1是本装置的结构示意图，图中：

0—脐橙样品，

1—电脑，2—箱体，3—高光谱成像仪，4—电动位移台，