[发明专利]可编程的显示面板检测用探针结构及检测系统

说明书

本发明公开了一种显示面板检测用探针结构，包括PCB基板、设置在PCB基板上的PCB探针微元(PCB Pin微元)阵列以及分布在探针微元和PCB板上的各项异性导电微球和导电固化胶，其中PCB探针微元阵列的分布包含有对应于各型号的带检测PAD的位置和尺寸的检测区域，PCB探针微元阵列上分布有至少两个各项异性导电微球。本发明也公开了一种具有该探针结构的检测系统，包括探针结构和驱动控制器，驱动控制器用以识别探针微元阵列与待测显示面板PAD的导通情况，并将外部显示面板检测信号接入。与现有技术相比，使用本发明提供的探针结构及驱动控制器，具有型号通用性，改变了现有每个型号需要单独的探针设计结构，进而需要购买整套检测Jig，极大的降低了成本，避免浪费。

技术领域

本发明属于显示面板检测技术领域，具体而言，本发明涉及一种显示面板表面过程检测设备。

背景技术

现有的液晶显示用小尺寸产品型号种类较多，使得检测专用设备(业内称Jig)的通用性非常差，为此，在检测设备的投入上，生产企业的投资巨大。

以某工厂为例，每天生产10万片，需使用的检测设备为100台，以5个型号算，每个型号将使用20台设备，由于型号间不通用，给设备投资、生产切换带来很多问题。往往产品型号生命周期结束，这些专用检测Jig即堆放在仓库，也不好处理。例如，图1中给出了现有技术中显示面板PAD的结构及检测用Jig探针结构，由图可知，现有探针结构为金属探针的结构，对应不同型号的显示面板，检测PAD的数量及位置分布有差异，因此检测Jig的探针结构也不同，所以型号间的探针结构不通用。同时，机械式探针直径形状尺寸多在1mm左右，受限于装配结构，不能进一步缩短间距。检测时，机械控制按压接触，每一根探针都对应显示面板上的一个PAD，不同型号PAD的位置、尺寸、数量不同，造成检测设备用Jig探针的位置和数量就不同，导致现有检测设备不能通用。为此，如果能将检测用探针结构通用于各种型号件，则可节省至少1半以上的设备投入。

发明内容

经过不懈的研究，本发明人出乎意料地发现通过在PCB板上由导电微球与固体胶设置导电位置，以及结合设置PCB探针微元，从而获得通用的检测探针结构及具有该检测探针结构的检测系统。

鉴于此，本发明的目的在于提供一种可编程的显示面板检测用探针结构，该探针结构简单，且能通用于检测各种型号的液晶显示用小尺寸产品。

本发明的另一目的在于提供具有上述探针结构的检测系统，该系统通过使用本发明提供的探针结构及驱动控制器，具有型号通用性，改变了现有每个型号需要单独的探针设计结构，进而需要购买整套检测Jig，极大的降低了成本，避免浪费。

本发明的技术方案如下：

显示面板检测用探针结构，包括PCB基板、设置在PCB基板上的PCB探针微元(PCBPin微元)阵列以及分布在探针微元和PCB板上的各项异性导电微球和导电固化胶，其中PCB探针微元阵列的分布包含有对应于各型号的带检测PAD的位置和尺寸的检测区域，PCB探针微元阵列上分布有至少两个各项异性导电微球。

其中，各项异性导电微球的分布密度为为2个～50个每平方毫米。

其中，各向异性的导电固化胶为UV胶；

其中，导电微球是微米级的金属微球或合金微球，例如铜微球、铝微球、银微球以及表面镀膜具有导电性能的高分子小球。

其中，微米级的金属微球的直径满足产品PAD的30-50um的最小间距。

其中，微米级的金属微球的直径为3um-10um，优选3um-5um。

其中，各项异性导电胶均匀涂覆在PCB基板及PCB探针微元阵列上方，并通过UV和加热法固化。