[发明专利]检查有机发光二极管的质量的方法和检查系统

权利要求书

1.一种检查有机发光二极管OLED的质量的方法，所述方法包括

向所述OLED施加输入电压；

测量所述OLED两端的OLED电压和流过所述OLED的OLED电流；

至少部分基于所测量的OLED电压和所测量的OLED电流估计所述OLED的参数；以及

至少部分基于所述参数提取所述OLED的物理特征；

其中，至少部分基于多个参数候选向量的适应度函数执行所述估计，

其中，所述适应度函数被定义为θi是所述多个参数候选向量，t是时间，IOLED是所测量的OLED电流，VOLED是所测量的OLED电压且是估计的OLED电压，并且

其中，至少部分基于所述多个参数候选向量对所述估计的OLED电压进行估计。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，OLED模拟包括一个或多个电阻器和一个或多个电容器。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述OLED包括正极、形成在所述正极上面的空穴注入层、形成在所述空穴注入层上面的空穴传输层、形成在所述空穴传输层上面的发光层、形成在所述发光层上面的电子传输层、形成在所述电子传输层上面的电子注入层和形成在所述电子注入层上面的负极，其中，各个层具有电阻，并且

其中，所述OLED模拟包括i)电连接在所述OLED的阳极和第二节点之间的寄生电阻RP，ii)并联电连接在所述第二节点与所述OLED的阴极之间的二极管电阻RD和二极管电容CD，和iii)电连接在所述OLED的所述阳极与所述OLED的所述阴极之间的寄生电容CP；

其中，所述第二节点是并联电连接的所述二极管电阻RD和所述二极管电容CD的与所述OLED的所述阴极相对的一端。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述寄生电阻RP被定义为所述空穴注入层、所述空穴传输层、所述电子传输层和所述电子注入层的电阻的总和，

其中，所述寄生电容CP被定义为所述正极与所述负极之间的电容，

其中，所述二极管电阻RD被定义为所述发光层的电阻，并且

其中，所述二极管电容CD被定义为所述发光层的电容。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述估计包括：

从N个初始参数候选向量中选择具有适应度函数的P个第一参数候选向量，其中，所述P和N是正整数，并且其中，N大于P；

在连接所述第一参数候选向量的线上选择N-P个第二参数候选向量；并且

从所述第一参数候选向量和所述第二参数候选向量中选择具有最大适应度函数的最优向量。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述估计进一步包括：

从所述N个初始参数候选向量重复选择具有最大适应度函数的所述最优向量；并且

从所述最优向量中确定最终向量。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，负载电阻器串联地电连接至所述OLED以测量所述OLED电压和所述OLED电流。

8.一种有机发光二极管OLED的检查系统，所述检查系统包括：

负载电阻器，串联地电连接至所述OLED；

数据收集器，被配置为向所述OLED施加输入电压并且测量所述OLED两端的OLED电压和流过所述OLED的OLED电流中的至少一个；以及

处理器，被配置为i)至少部分基于所测量的OLED电压和所测量的OLED电流估计所述OLED的参数并且ii)至少部分基于所述参数提取所述OLED的物理特征；

其中，至少部分基于多个参数候选向量的适应度函数执行所述估计，

其中，所述适应度函数被定义为θi是所述多个参数候选向量，t是时间，IOLED是所测量的OLED电流，VOLED是所测量的OLED电压且是估计的OLED电压，并且

其中，至少部分基于所述多个参数候选向量对所述估计的OLED电压进行估计。

9.根据权利要求8所述的检查系统，其中，OLED模拟包括一个或多个电阻器和一个或多个电容器。