[发明专利]基于FPGA实现波形测量光标显示的装置及方法在审

专利信息
申请号: 201510652048.5 申请日: 2015-10-08
公开(公告)号: CN105223396A 公开(公告)日: 2016-01-06
发明(设计)人: 王俊生;张永坡;栗永强 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G01R13/02 分类号: G01R13/02
代理公司: 济南舜源专利事务所有限公司 37205 代理人: 朱玉建
地址: 233010 *** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 fpga 实现 波形 测量 光标 显示 装置 方法
【权利要求书】:

1.基于FPGA实现波形测量光标显示的装置,其特征在于,包括:

识别模块,由识别控制寄存器控制,被配置为用于控制光标的显示和消隐、光标显示亮度和光标显示位置参数值;所述光标包括电压光标和时间光标;根据是否打开光标及打开的是电压光标还是时间光标发出不同的控制命令给识别控制寄存器;

光标位置检测模块,被配置为用于读取光标位置寄存器中电压或时间光标的显示位置,检测光标在在屏幕上的位置,并同步启动行/场扫描计数;

光标显示模块,被配置为用于当扫描至电压光标在屏幕上的垂直显示位置或时间光标在屏幕上的水平显示位置时开始启动,继续行/场扫描计数,当扫描至电压光标在屏幕上的水平显示起始位置或时间光标在屏幕上的垂直显示起始位置时,开始点亮电压或时间光标,直至扫描至电压光标在屏幕上的水平显示终止位置或时间光标在屏幕上的垂直显示终止位置时,电压或时间光标显示完成;其中,电压光标在屏幕上的水平显示起始和终止位置、时间光标在屏幕上的垂直显示起始和终止位置均由FPGA内部预先设定好。

2.根据权利要求1所述的基于FPGA实现波形测量光标显示的装置,其特征在于,被选择的电压光标或时间光标为当前活跃光标并进行高亮度显示,当转动示波器旋钮转变光标位置时,当前活跃光标的位置随旋钮转变而改变;未被选择的电压光标或时间光标低亮度显示。

3.根据权利要求1所述的基于FPGA实现波形测量光标显示的装置,其特征在于,FPGA内部设置主时基和延迟时基;在FPGA中控制光标开关以及选择当前活跃光标,同时选择延迟时基是否打开,FPGA启动内部识别模块,判断是否打开延迟时基;当判断打开延迟时基且打开光标后,由光标位置检测模块检测主时基和延迟时基的光标在屏幕上的位置,同时启动光标显示模块,FPGA内部分别设置主时基和延迟时基在屏幕上的电压光标的水平显示起始和终止位置及时间光标的垂直显示起始和终止位置,主时基和延迟时基同步显示两组光标。

4.根据权利要求1所述的基于FPGA实现波形测量光标显示的装置,其特征在于,所述基于FPGA实现波形测量光标显示的装置还包括:

触发电平位置指示光标显示模块,被配置为当转动触发电平旋钮时显示光标,并指示当前触发电平位置;当超过3s没有改变触发电平大小时消隐光标。

5.根据权利要求1所述的基于FPGA实现波形测量光标显示的装置,其特征在于,所述基于FPGA实现波形测量光标显示的装置还包括:

光标跟踪显示模块,被配置为当用户打开测量跟踪功能时,电压或时间光标的参数值将根据测量结果、垂直或水平档位、垂直或水平零点的位置以及屏幕满刻度总点数进行计算,确定本光标对应的电压或时间值在屏幕上的位置,由光标位置寄存器保存所有光标显示位置参数值,并同时启动光标显示模块,电压或时间光标的位置随着信号的变化而同步改变。

6.基于FPGA实现波形测量光标显示的方法,其特征在于,包括:

用于控制光标的显示和消隐、光标显示亮度和光标显示位置参数值的光标识别步骤;

所述光标包括电压光标和时间光标;根据是否打开光标及打开的是电压光标还是时间光标发出不同的控制命令给识别控制寄存器;由识别控制寄存器控制执行上述光标识别步骤;

用于读取光标位置寄存器中电压或时间光标的显示位置,检测光标在在屏幕上的位置,并同步启动行/场扫描计数的光标位置检测步骤;

用于当扫描至电压光标在屏幕上的垂直显示位置或时间光标在屏幕上的水平显示位置时开始启动,继续行/场扫描计数,当扫描至电压光标在屏幕上的水平显示起始位置或时间光标在屏幕上的垂直显示起始位置时,开始点亮电压或时间光标,直至扫描至电压光标在屏幕上的水平显示终止位置或时间光标在屏幕上的垂直显示终止位置时,电压或时间光标显示完成的光标显示步骤;其中,电压光标在屏幕上的水平显示起始和终止位置、时间光标在屏幕上的垂直显示起始和终止位置均由FPGA内部预先设定好。

7.根据权利要求6所述的基于FPGA实现波形测量光标显示的方法,其特征在于,被选择的电压光标或时间光标为当前活跃光标并进行高亮度显示,当转动示波器旋钮转变光标位置时,当前活跃光标的位置随旋钮转变而改变;未被选择的电压光标或时间光标低亮度显示。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所,未经中国电子科技集团公司第四十一研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510652048.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top