[发明专利]激光分光光度计

说明书

技术领域

本发明涉及激光分光光度计，特别是涉及一种通过轮转的单色激光器进行测量的激光分光光度计。

背景技术

分光光度计在现代科技中有十分重要的价值。世界上，分析工作量有20％～30％是用分光光度计完成的。在我国，分光光度计在科研和生产中更显其主导地位，在国民经济各方面起到举足轻重作用，其社会效益和经济效益远超于仪器所创产值。鉴于本类仪器在国民经济中的重要性，其被列为中华人民共和国强制检定的工作计量器具目录。

本发明所涉及的光度计主要为分析用分光光度计，该分析用分光光度计利用物质的吸收光谱进行物质的化学组成及含量分析。现有技术的分析用分光光度计的结构框图如图1所示，包括测量光源1’、单色器2’、吸收池3’、检测器4’和指示器5’。测量光源1’通常采用白炽灯、氢弧灯或者斯特灯等产生一个光谱连续的光源，所述测量光源1’通过单色器2’滤光形成单色光，将单色器2’形成的单色光通过所述吸收池3’，最后通过检测器4’获得测量结果显示于指示器5’上。所述单色器2’主要由狭缝、色散元件(棱镜或光栅)及准直镜组成，通过单色器2’过滤获得单色光，间隔10nm取值一次，而后对每一次测量的结果进行分析获得吸收光谱，单色器2’的准确度直接影响分光光度计测量结果的精度。

现有技术的分析用分光光度计存在以下局限性：

(1)由于大多数物质分子的电子光谱处在紫外和可见光谱区，少数处于近红外区。而现有技术所使用的测量光源的光谱主要集中于可见光，在化学分析中适用范围受到了很大的限制。

(2)现有技术的单色器通过色散的方式所产生的单色光，本质上仍属于频带较窄的复色光；在定性分析中，是根据吸收峰值的波长示值来确定物质成分的，波长误差可能会造成错误的判断，进行多组分同时测定时，吸收光谱重叠严重，或者其中一个成分的浓度相对于其他组分很小的时候，测定误差较大，分辨率低；在定量分析中，所应用的比尔定律严格的说是仅适用于单色光的，分辨力差、光谱不纯将影响定量分析的准确度。

(3)现有技术的分光光度计无法兼顾光通量和测量灵敏度，即单色器的狭缝如果太窄，则光通量太小，影响测量灵敏度，狭缝太宽，单色光纯度差；光度准确度和光度重复性受到影响；由于光源精度限制，使检测器只能测量透射光的光强度，无法对投射光前后的相位差进行测量，无法满足分析要求。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术之不足，提供一种通过轮转的单色激光器进行测量的激光分光光度计，通过多个具有更好相干性的单色光作为测量光源，改善了现有技术分光光度计测量精度不高的缺点，具有更广泛的适用性与实用价值。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案为：

激光分光光度计，包括：

分光盘，包括复数个单色激光器，该复数个单色激光器沿圆周间隔设置于所述分光盘，以通过转动分光盘实现不同单色激光器的切换；

吸收池，用于放置所需待测量试样，所述吸收池设置于所述分光盘的后端；

检测器，所述检测器设置于所述吸收池的后端，以使所述分光盘的其中之一的单色激光器发出激光通过吸收池到达检测器，所述检测器用于检测通过吸收池后的激光的相关参数。

所述分光盘包括沿圆周方向设置的激光器安装孔和设置于圆盘中心的轴孔，还包括转轴，该转轴卡置于所述分光盘的轴孔中。

优选的，还包括遮蔽盘，该遮蔽盘设置于所述分光盘的后端，以对所述分光盘所发出激光进行遮蔽；所述遮蔽盘设有一通光孔，所述分光盘的其中之一的单色激光器通光该通光孔发射激光至所述吸收池。所述遮蔽盘为与所述分光盘平行设置的圆盘，所述通光孔与所述分光盘上的其中之一的单色激光器相对应，并通过所述分光盘的转动改变所对应的单色激光器。

优选的，还包括聚焦透镜，所述聚焦透镜设置于所述分光盘与所述遮蔽盘之间，以通过聚焦激光引导激光通过所述通光孔。

优选的，还包括导光光纤；所述单色激光器所发出的激光通光该导光光纤入射至所述吸收池；由所述吸收池出射的激光通过该导光光纤入射至所述检测器。所述导光光纤的二端设有光纤接口，所述吸收池、检测器、单色激光器对应设有与该光纤接口相配合的安装接口，以安装固定导光光纤。

优选的，还包括指示器，所述指示器与检测器相连接，以显示检测器所测量数据。

优选的，单色激光器为可变波长激光二极管，即波长在小范围内可调的激光二极管。